[发明专利]制造AlxGa(1-x)N单晶的方法、AlxGa(1-x)N单晶和光学透镜无效
申请号: | 200980125962.7 | 申请日: | 2009-06-25 |
公开(公告)号: | CN102084040A | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
发明(设计)人: | 荒川聪;樱田隆;山本喜之;佐藤一成;谷崎圭祐;中幡英章;水原奈保;宫永伦正 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | C30B29/38 | 分类号: | C30B29/38;C30B23/06;G02B1/02;G02B3/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈海涛;樊卫民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 al sub ga 方法 光学 透镜 | ||
1.一种制造AlxGa(1-x)N单晶(10)的方法,所述AlxGa(1-x)N(0<x≤1)单晶(10,12)是通过升华法生长的,所述方法包括下述步骤:
准备底部衬底(11),
准备高纯度原料(17),以及
通过升华所述原料(17)而在所述底部衬底(11)上生长所述AlxGa(1-x)N单晶(10,12)。
2.根据权利要求1的制造AlxGa(1-x)N单晶(10)的方法,其中所述生长步骤包括生长厚度大于或等于300μm的所述AlxGa(1-x)N单晶(10,12)的步骤。
3.根据权利要求1的制造AlxGa(1-x)N单晶(10)的方法,其中所述准备步骤包括准备具有与所述AlxGa(1-x)N单晶(10,12)的组成相同的组成的所述底部衬底(11)的步骤。
4.一种AlxGa(1-x)N(0<x≤1)单晶(10),所述AlxGa(1-x)N单晶(10)具有在300K下测得的,对波长大于或等于250nm并且小于或等于300nm的光为大于或等于2.4的折射率,以及对波长大于300nm并且小于350nm的光为大于或等于2.3的折射率。
5.根据权利要求4的AlxGa(1-x)N单晶(10),其中对波长大于或等于300nm并且小于350nm的光,在300K下测得的吸收系数小于或等于27cm-1。
6.根据权利要求4的AlxGa(1-x)N单晶(10),其中位错密度小于或等于1×106cm-2。
7.根据权利要求4的AlxGa(1-x)N单晶,其中氧浓度小于或等于1×1019cm-3。
8.根据权利要求4的AlxGa(1-x)N单晶(10),所述AlxGa(1-x)N单晶(10)具有表面粗糙度RMS小于或等于100nm的主面。
9.根据权利要求4的AlxGa(1-x)N单晶(10),其中宽度或直径大于或等于5mm,且厚度大于或等于300μm.
10.一种使用权利要求4所述的AlxGa(1-x)N单晶(10)制作的光学透镜(20,30)。
11.根据权利要求10的光学透镜(20,30),所述光学透镜(20,30)包含平面和从所述平面延伸的半球状球形部,
其中所述平面是(0001)面或平行于所述(0001)面的面。
12.根据权利要求10的光学透镜(20,30),所述光学透镜(20,30)包含平面和从所述平面延伸的超半球状球形部,
其中所述平面是(0001)面或平行于所述(0001)面的面。
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