[发明专利]正型抗蚀剂组合物以及微透镜的制造方法有效
申请号: | 200980126272.3 | 申请日: | 2009-07-07 |
公开(公告)号: | CN102089710A | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
发明(设计)人: | 汤川升志郎;岸冈高广;坂口崇洋;庄田浩之 | 申请(专利权)人: | 日产化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/023 | 分类号: | G03F7/023;C08F12/32;G02B1/04;G02B3/00;G02F1/1333;G03F7/004 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;田欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 正型抗蚀剂 组合 以及 透镜 制造 方法 | ||
1.一种正型抗蚀剂组合物,其包含下述成分(A)、成分(B)和成分(C):
成分(A):包含具有联苯结构的结构单元的碱溶性聚合物;
成分(B):具有能够进行光分解、并在光分解时产生碱溶性基团的有机基团的化合物;
成分(C):溶剂。
2.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其中,成分(A)的碱溶性聚合物是包含式(1)所示结构单元的聚合物,且当将构成聚合物(A)的结构单元的总数设为1.0时,构成聚合物(A)的式(1)所示结构单元的比例n1满足0.3≤n1≤1.0,
式(1)
式(1)中,R1表示卤原子、烷基、烷氧基、巯基、氰基、氨基、酰胺基、烷基羰基、烷硫基或它们的组合,R2表示羧基或羟基,R3表示氢原子或甲基;Q1表示单键或2价连接基;m2为0~5的整数,m4为0~4的整数,且(m2+m4)为1~9的整数;m1为满足0≤m1≤(5-m2)的整数,m3为满足0≤m3≤(4-m4)的整数。
3.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其中,成分(A)的碱溶性聚合物是包含式(2)所示结构单元和式(3)所示结构单元的聚合物,且当将构成聚合物(A)的全部结构单元的总数设为1.0时,构成聚合物(A)的式(2)所示结构单元的比例n2和式(3)所示结构单元的比例n3满足0.2≤n2≤0.8、0.1≤n3≤0.7、且0.3≤n2+n3≤1.0,
式(2)
式(2)中,R1表示卤原子、烷基、烷氧基、巯基、氰基、氨基、酰胺基、烷基羰基、烷硫基或它们的组合,R2表示羧基或羟基,R3表示氢原子或甲基;Q1表示单键或2价连接基;m2为0~5的整数,m4为0~4的整数,且(m2+m4)是0~9的整数;m1为满足0≤m1≤(5-m2)的整数,m3为满足0≤m3≤(4-m4)的整数,
式(3)
式(3)中,R4、R5分别表示氢原子、甲基、羧基或碳原子数为1~3的羧烷基,Q2表示单键、碳原子数为1~3的亚烷基或碳原子数为6~20的亚芳基。
4.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其中,成分(A)的碱溶性聚合物是包含权利要求2所述的式(1)所示结构单元、式(4)所示结构单元和/或式(5)所示结构单元的聚合物,且当将构成聚合物(A)的全部结构单元的总数设为1.0时,构成聚合物(A)的式(1)所示结构单元的比例n1、式(4)所示结构单元的比例n4和式(5)所示结构单元的比例n5满足0.3≤n1≤0.7、0≤n4≤0.4、0≤n5≤0.4、且0.3≤n1+n4+n5≤1.0,
式(4)
式(4)中,R6和R7分别表示氢原子、甲基、羧基或碳原子数为1~3的羧烷基,R8表示碳原子数为1~10的取代或未取代的烷基、碳原子数为3~6的环氧基、碳原子数为6~20的芳基或它们的组合,Q3表示单键、碳原子数为1~3的亚烷基或碳原子数为6~20的亚芳基,
式(5)
式(5)中,R9和R10分别表示碳原子数为1~10的取代或未取代的烷基、碳原子数为1~6的羟基烷基、羟基、卤基、羧基或碳原子数为1~10的烷氧基。
5.根据权利要求2所述的正型抗蚀剂组合物,其中,成分(A)的碱溶性聚合物是除了包含权利要求3所述的式(2)所示结构单元和权利要求3所述的式(3)所示结构单元以外,还包含权利要求4所述的式(4)所示结构单元和/或权利要求4所述的式(5)所示结构单元的聚合物,且当将构成聚合物(A)的全部结构单元的总数设为1.0时,构成聚合物(A)的式(2)所示结构单元的比例n2、式(3)所示结构单元的比例n3、式(4)所示结构单元的比例n4和式(5)所示结构单元的比例n5满足0.2≤n2≤0.8、0.1≤n3≤0.7、0≤n4≤0.4、0≤n5≤0.4、且0.3≤n2+n3+n4+n5≤1.0。
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