[发明专利]安全元件有效
申请号: | 200980126511.5 | 申请日: | 2009-07-08 |
公开(公告)号: | CN102089123A | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
发明(设计)人: | 曼弗雷德·海姆 | 申请(专利权)人: | 德国捷德有限公司 |
主分类号: | B24D15/00 | 分类号: | B24D15/00;B24D15/10 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 何文彬 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 安全 元件 | ||
1.一种用于保护数据载体的安全元件,包括三层薄膜元件,所述三层薄膜元件包括反射层、吸收层和设于所述反射层和所述吸收层之间的介质间隔层,其中,所述反射层、吸收层和介质间隔层以这样一种方式相互配合,从所述吸收层一侧以任何视角在整个可见光谱范围内观看,所述薄膜元件具有极低的反射并呈黑色。
2.根据权利要求1所述的安全元件,其特征在于,从所述吸收层一侧以任何视角在整个可见光谱范围内观看,所述薄膜元件的反射低于20%,优选低于15%,尤其优选低于10%。
3.根据权利要求1或2所述的安全元件,其特征在于,从所述吸收层一侧以任何视角在整个可见光谱范围内观看,所述薄膜元件没有最大反射。
4.根据权利要求1-3至少一项所述的安全元件,其特征在于,从所述吸收层一侧观看,所述薄膜元件在紫外线光谱范围内具有最大反射。
5.根据权利要求1-4至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述介质间隔层的层厚度在20nm~90nm之间。
6.根据权利要求5所述的安全元件,其特征在于,所述间隔层大体由折射率n<1.8的低指数介质,尤其是由二氧化硅和氟化镁组成的低指数介质形成,所述间隔层的层厚度在50nm~90nm之间,尤其是约70nm。
7.根据权利要求5所述的安全元件,其特征在于,所述间隔层大体由折射率n≥1.8的高指数介质,尤其是由二氧化钛或硫化锌组成的高指数介质形成,所述间隔层的层厚度在20nm~50nm之间,尤其是约40nm。
8.根据权利要求1-7至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述间隔层的介质材料采用可吸收的物质补充,尤其是可吸收的金属离子。
9.根据权利要求1-8至少一项所述的安全元件,其特征在于,当从所述反射层侧以任何视角在整个可见光谱范围内观看时,所述薄膜元件呈高金属光泽。
10.根据权利要求1-9至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述薄膜元件具有图案、字符或代码形式的间隙,所述间隙在所述薄膜元件中形成透明或半透明区域。
11.根据权利要求10所述的安全元件,其特征在于,所述间隙仅位于所述薄膜元件的反射层中。
12.根据权利要求1-11至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述安全元件具有由胆甾型液晶材料组成的色移层,所述色移层面对所述薄膜元件的吸收层一侧,所述呈黑色的薄膜元件为所述色移层形成深色背景。
13.根据权利要求1-12至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述安全元件具有至少一另外的可用计算机处理的安全特征,尤其是具有磁性的、导电的、磷光的、荧光的或其它发光物质的安全特征。
14.根据权利要求1-13至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述安全元件设于载体箔上,尤其是聚对苯二甲酸乙二醇酯箔,所述载体箔的厚度在6μm~23μm之间。
15.根据权利要求1-14至少一项所述的安全元件,其特征在于,所述安全元件面对所述薄膜元件的反射层的一侧具有由向列型液晶材料组成的相延迟层,所述相延迟层和所述反射层一起形成用偏振过滤器可验证的偏振特征。
16.根据权利要求15所述的安全元件,其特征在于,所述相延迟层以图案、字符或代码的形式出现。
17.一种如权利要求1-16至少一项所述的安全元件的制造方法,其中,反射层、介质间隔层和吸收层堆叠形成三层薄膜元件,所述反射层、吸收层和介质间隔层以这样一种方式相互配合,从所述吸收层一侧以任何视角在整个可见光谱范围内观看,所述薄膜元件具有极低的反射并呈黑色。
18.根据权利要求17所述的方法,其特征在于,大体上折射率n<1.8的低指数介质,尤其是二氧化硅或氟化镁被施加为层厚度在50nm~90nm之间的介质间隔层。
19.根据权利要求17所述的方法,其特征在于,大体上折射率n≥1.8的高指数介质,尤其是二氧化钛或硫化锌被施加为层厚度在20nm~50nm之间的介质间隔层。
20.根据权利要求17-19至少一项所述的方法,其特征在于,所述介质间隔层是气相沉积或压印而成。
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