[发明专利]用于校正穿过接触表面的信号传播速度偏差的系统和方法

权利要求书

1.一种触敏装置，包括：能够支撑弯曲波的基板；安装在所述基板上的多个传感器，用于测量所述基板内的弯曲波振动，以确定第一测量弯曲波信号；以及根据来自所述传感器的所述测量弯曲波信号计算与接触位置相关的信息的处理器，其中所述处理器基于支撑所述弯曲波的所述基板的材料的频散关系施加多个频散校正，并且其中所述多个校正中的一些基于至少两个不同的基板常数，所述常数代表影响波通过所述基板的传播速度的变化的基板性质。

2.根据权利要求1所述的触敏装置，其中所述不同的基板性质是指变化的基板厚度。

3.根据权利要求2所述的触敏装置，其中所述基板为玻璃。

4.根据权利要求3所述的触敏装置，其中所述基板常数＝(μ/B)^1/4，其中μ＝所述基板的单位面积质量，B＝所述基板的挺度。

5.根据权利要求2所述的触敏装置，其中所述多个校正基于至少六个不同的基板常数。

6.一种确定与触敏装置上的接触相关的坐标信息的方法，其中所述触敏装置具有能支撑弯曲波的基板，所述方法包括：

使用安装在所述基板上的第一传感器测量所述基板内的弯曲波振动，以确定第一测量弯曲波信号；

确定使用安装在所述基板上的第二传感器测量的第二测量弯曲波信号；

根据来自所述第一传感器和所述第二传感器的所述测量弯曲波信号计算与所述接触相关的坐标信息，其中所述计算包括根据支撑所述弯曲波的所述基板的材料的频散关系施加多个频散校正，并且其中所述多个校正中的一些基于至少两个不同的基板常数，所述常数代表影响波通过所述基板的传播速度的变化的基板性质。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述不同的基板性质是指变化的基板厚度。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述基板为玻璃。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述基板常数＝(μ/B)^1/4，其中μ＝所述基板的单位面积质量，B＝所述基板的挺度。