[发明专利]紫外线受光元件和紫外线量的测定方法

权利要求书

1.一种紫外线受光元件，其特征在于，具有：基板、以及形成在该基板上的由金属氟化物薄膜构成的紫外线检测层、以及形成在该紫外线检测层上的至少一对阳极和阴极。

2.根据权利要求1所述的紫外线受光元件，其特征在于，金属氟化物薄膜为稀土金属氟化物薄膜。

3.根据权利要求1所述的紫外线受光元件，其特征在于，金属氟化物薄膜为金属氟化物单晶薄膜。

4.一种紫外线量的测定方法，其特征在于，使紫外线入射到由金属氟化物薄膜构成的紫外线检测层中，将因入射紫外线量而产生的紫外线检测层的电阻率的变化量以电信号的形式输出。