[发明专利]用于使用吸收来成像的系统和方法有效
申请号: | 200980128849.4 | 申请日: | 2009-07-24 |
公开(公告)号: | CN102105780A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | D.P.哈特;F.弗里格里奥;D.M.马里尼 | 申请(专利权)人: | 麻省理工学院 |
主分类号: | G01N21/86 | 分类号: | G01N21/86 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;蒋骏 |
地址: | 美国麻*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 使用 吸收 成像 系统 方法 | ||
1. 一种用于获得三维数据的方法,包括:
在目标表面和传感器之间分布介质,所述目标表面在感兴趣区域上具有预定颜色,并且所述介质由在第一波长下的第一衰减系数以及在第二波长下的不同于所述第一衰减系数的第二衰减系数表征;
照明感兴趣区域中的位置;
利用所述传感器测量在所述位置方向上的第一波长的强度和第二波长的强度;以及
基于所述第一波长的强度和第二波长的强度的函数来确定介质在所述位置方向上的厚度。
2. 根据权利要求1所述的方法,其中所述介质包括液体、气体、固体和凝胶中的至少一个。
3. 根据权利要求1所述的方法,其中所述介质是气体,该方法还包括在目标表面和传感器之间提供透明屏障以相对于目标表面保持该气体。
4. 根据权利要求1所述的方法,其中所述介质是液体,该方法还包括:
将目标表面浸入液体;以及
将传感器定位于该液体的上表面之上。
5. 根据权利要求1所述的方法,其中确定厚度包括计算第一波长的强度和第二波长的强度的比值。
6. 根据权利要求1所述的方法,其中所述传感器测量该传感器内的对应多个像素位置处、来自感兴趣区域内的多个位置的第一波长的强度和第二波长的强度,从而提供厚度测量的二维阵列。
7. 根据权利要求6所述的方法,还包括利用厚度测量的二维阵列构造感兴趣区域的三维图像。
8. 根据权利要求7所述的方法,还包括根据多个感兴趣区域的多个三维图像构造该目标表面的三维图像。
9. 根据权利要求1所述的方法,其中所述预定颜色是均匀的。
10. 根据权利要求1所述的方法,其中所述预定颜色是特定颜色。
11. 根据权利要求1所述的方法,其中所述预定颜色包括颜色分布。
12. 根据权利要求1所述的方法,其中所述第一衰减系数是零。
13. 根据权利要求1所述的方法,其中所述第一衰减系数小于第二衰减系数。
14. 根据权利要求1所述的方法,其中照明包括利用宽带光源来照明。
15. 根据权利要求1所述的方法,其中照明包括利用目标表面中的光学波导、化学发光物质和电致发光物质中的一个或多个来照明。
16. 根据权利要求1所述的方法,该方法还包括对介质和传感器之间的一个或多个波长的光进行滤光。
17. 根据权利要求14所述的方法,该方法还包括衰减不同于第一波长和第二波长的波长下的光。
18. 一种计算机程序产品,包含在计算机可读介质中,当该计算机程序产品在一个或多个计算设备上执行时执行下述步骤:
表征目标表面上感兴趣区域上的颜色以提供预定颜色;
表征在目标表面和传感器之间分布的介质的第一波长下的第一衰减系数和第二波长下的第二衰减系数;
从传感器接收在感兴趣区域中的位置方向上的测量,该测量包括在第一波长下的强度和在第二波长下的强度;以及
基于所述第一波长的强度和第二波长的强度的函数来计算介质在所述位置方向上的厚度。
19. 一种设备,包括:
目标表面,在感兴趣区域上具有预定颜色;
传感器,能够测量来自感兴趣区域中的位置的电磁辐射的强度,所述强度包括第一波长下的强度和第二波长下的强度;
介质,分布于所述目标表面和传感器之间,所述介质由第一波长下的第一衰减系数和第二波长下的不同于所述第一衰减系数的第二衰减系数表征;
光源,能够以第一波长和第二波长照明感兴趣区域;以及
处理器,被编程为从传感器接收第一波长下的强度和第二波长下的强度并且基于所述第一波长的强度和第二波长的强度的函数来计算介质在所述位置方向上的厚度。
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