[发明专利]用于自动化测试的屏蔽射频的封围物

说明书

技术领域

本发明涉及屏蔽电子装备免受电磁干扰(EMI)的影响。更明确地说，呈现一种屏蔽射频(RF)的封围物，其附接到测试器且允许使用自动化以及非自动化的测试装备。

背景技术

电子组件的制造和随后的测试产生了至少呈射频RF形式的电磁能量。产生的RF能量在不受屏蔽的情况下辐射穿过制造建筑，从而很可能引起对建筑中的活动中的任一者的干扰。来自制造设施的外部的RF能量也可穿透到所述建筑中且引起干扰。

用以在富含RF环境内隔离特定区域的工具是屏蔽室(screen room)。这些是全部用例如铜网等昂贵的RF屏蔽材料覆盖的大室。其需要很多时间来建造且消耗宝贵的占地面积。随着时间的过去，所述室的有效性退化且需要昂贵且耗时的替换。

屏蔽室收容所述测试装备。待测试的项目被带入到屏蔽室。时间耗费在运送待测试的项目上。为了减少用以运送的此时间，将屏蔽室位置限制成尽可能接近于电子组件从制造线下来的点。

此紧密接近位置进一步增加了使用屏蔽室的成本，因为不仅消耗了宝贵的占地面积，还消耗了接近于生产线的极其宝贵的制造占地面积。

考虑到上文论述的问题而制作本发明且其旨在解决相关问题。

发明内容

一种用于在附接到测试器时限制RF能量流的设备，其中测试装备定位在所述设备内，所述设备包含：盖子；底座；铰链，其用于将所述盖子附接到所述底座；EMI密封垫材料，其用于密封接缝；闩锁，其用于将所述盖子附接到所述底座且用于在所述盖子与所述底座之间施加力以提供对EMI密封垫材料的压缩，以用于适当地密封所述接缝；连接点，其用于提供所述底座到所述测试器的二轴对准；以及定位盘，其用于提供所述测试设备相对于所述测试器的三轴对准。

从下文陈述的详细描述、各图以及权利要求书将明白本发明的额外特征和益处。

附图说明

图1是附接到工业标准测试器的屏蔽RF的封围物的图式；

图2是用以将屏蔽RF的封围物附接到测试器的附接硬件的较近视图；

图3是用于将屏蔽RF的封围物附接到测试器的附接硬件的部分分解视图；

图4是屏蔽RF的封围物在打开时的图式；

图5是展示环境控制定位盘的屏蔽RF的封围物的盖子的细节的图式；

图6是展示定位盘的全部尺寸的盖子为透明的图式；

图7是展示RF空腔滤波器的盖子的内部的图式；

图8是展示RF空腔滤波器的细节的图式；

图9是排气空腔滤波器的剖面图式；

图10是环境控制腔室的剖面图式。

具体实施方式

描述和附图是出于说明的目的，且将不用于以限制性的方式解释本发明。在以下描述中陈述了特定细节以便提供对本发明的全面理解。然而，所属领域的技术人员将明白，在没有这些特殊细节的情况下可实践本发明。

现在转到附图的图1，图1中展示附接到由测试器120支撑的测试板框架110的屏蔽RF的封围物100。屏蔽RF的封围物包含盖子101和底座102。

使用用于基本形状的材料来建构屏蔽RF的封围物100。金属天生地限制或者衰减EMI能量或者RF能量的通过。金属耐用、廉价且相对易于成型。所属领域的技术人员将了解，可使用其它材料。

屏蔽RF的封围物100足够小且由适当的材料建构，使得屏蔽RF的封围物100可被运送到测试器或者待测试的项目。提供把手140来用于对单独的或者附接有装备的屏蔽RF的封围物100的有效运送。

屏蔽RF的封围物100可被设计成配合任何测试设置。测试器120和测试板110以及环境控制器输入105描绘了工业标准的测试装备。此标准设置将用于本发明。然而，决不应以任何方式将此解释成针对屏蔽RF的封围物100限制本发明的范围。

屏蔽RF的封围物100展示成处于闭合位置中，其中环境控制器输入105展示成经由盖子101从环境控制器(未图示)路由。在此位置中，环境控制器输入105在测试期间可容易地接近、保持稳固地附接到屏蔽RF的封围物100且在屏蔽RF的封围物100打开时顺畅摆动。

闩锁130在闭合时施加用以使盖子101固持到底座102的力。所述力也帮助压缩EMI密封垫材料(在稍后的图中更好地说明)以在接合处提供适当的RF屏蔽。术语“适当的”用以描述实现针对设计的那部分而陈述的目标的实施方案实践。当实现期望屏蔽RF的封围物100达到的衰减水平时，总的屏蔽效果便是适当的。