[发明专利]测试模块及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试模块及测试方法。本发明特别涉及可高速读出以任意间隔计量的每个通道累计失效数的测试模块及测试方法。另外，本申请与下述日本申请相关联。对于承认文献参照编入的指定国，将下述申请记载的内容参照编入本申请，作为本申请的一部分。

专利申请2008-209080，申请日2008年8月14日。

背景技术

例如专利文献1公开了可缩短在每个范围区域具有修复块的被测试存储器的测试时间的测试装置。該测试装置具有：生成向被测试存储器提供的测试图案等的图案生成器、对应测试图案将被测试存储器输出的输出信号与期望值信号进行比较，当输出信号与期望值信号不一致时输出失效数据的逻辑比较器、以及对被测试存储器输出的输出信号计数失效数据数目的多个失效计数器。

专利文献1：特开2006-012253号公报

发明所要解決的问题

在现有测试装置中，如上所述具有计数失效数的失效计数器。但是，通过失效计数器进行的失效数计数，在多个测试图案连续的图案字符组中计数，通过在图案字符组结束后读出失效计数器的值，可知道该图案字符组中的失效数。为了得到每个测试图案的失效数，利用以时间序列记录有无失效的失效存储器的数据。例如读出对应着眼的测试图案的失效存储器的数据，可通过软件驱动的数据处理装置对读出的数据进行处理而得到失效数。失效数据的读出及其处理是事后数据处理，所以会延长相应的测试时间。

另外，计算每个测试图案的错误率时，必须知道进行逻辑比较的图案数。对在失效存储器中存储的数据进行事后处理并计算错误率时，需要将逻辑比较的全部数据存储在失效存储器中，失效存储器的容量变大。换而言之，逻辑比较的取样间隔取决于失效存储器的容量，当容量小时取样间隔变长。

发明内容

为解决上述问题，本发明的第1方式中提供一种测试模块，是测试被测试设备的测试模块，包括：图案生成部，基于图案程序生成给予被测试设备的测试图案及对应测试图案的期望值图案；输出图案取得部，取得被给予测试图案的被测试设备所输出的输出图案；比较部，将输出图案与期望值图案进行比较；失效计数器，计数在比较部的输出图案与期望值图案的比较为不一致时输出的失效信息的输出次数；控制部，通过图案程序包含的控制命令控制失效计数器的动作。或者提供一种测试模块，是测试被测试设备的测试模块，包括：图案生成部，基于图案程序生成给予被测试设备的测试图案；比较部，将给予测试图案的被测试设备所输出的输出图案和与测试图案对应的期望值图案进行比较；失效计数器，计数输出图案与期望值图案在比较部中不一致的次数；控制部，通过图案程序包含的控制命令控制失效计数器的动作。

在所述的测试模块中，还包括确认计数器，计数经比较部比较的输出图案及期望值图案的比较比特数；控制部可以通过控制命令进一步控制确认计数器的动作。比较部还包括事件计数器，检知输出图案或期望值图案中指定的事件，计数比较部所检知的事件次数；控制部还可根据控制命令控制事件计数器的动作。还包括控制表，其对应控制代码记录指示失效计数器、确认计数器或事件计数器的各计数器的动作的控制数据；控制部从控制表取得控制命令指定的控制代码所对应的控制数据，根据取得的控制数据控制各计数器。还包括暂时读入各计数器的值的寄存器和存储各计数器的值的失效存储器；控制部基于控制数据包含的复位数据复位各计数器，基于控制数据包含的锁定数据将各计数器的值设置到寄存器中，基于控制数据包含的存储数据将寄存器中设置的值写入失效存储器。

各计数器可在每个输入输出通道设置对被测试设备的测试图案或输出图案。此时包括多个失效存储器，多个失效存储器可对应各计数器分别设置。或者，包括多个失效存储器，多个失效存储器在每个通道上设置。还包括基于失效计数器及确认计数器的值计算错误率的计算部。控制部可任意地停止失效计数器、确认计数器或事件计数器的各计数器的动作。