[发明专利]光谱分析检测有价证券的传感装置及与之相关的方法有效

专利信息
申请号: 200980131724.7 申请日: 2009-06-04
公开(公告)号: CN102124498A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 迈克尔·布洛斯;马丁·克拉拉;沃尔夫冈·德肯巴赫 申请(专利权)人: 德国捷德有限公司
主分类号: G07D7/12 分类号: G07D7/12
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 侯宇
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 光谱分析 检测 有价证券 传感 装置 与之 相关 方法
【权利要求书】:

1.一种传感装置,用于光谱分析地检测由一个沿规定输送方向通过传感装置检测区输送的有价证券发出的光探测射线,该传感装置包括:

一个探测装置,用于在至少一个规定的光谱探测范围内光谱分析地探测探测射线和输出探测信号,这些探测信号体现被探测的探测射线的至少一种特性,尤其是光谱特性;

至少一个基准射线装置,它发射光基准射线,光基准射线至少部分根据有价证券相对于检测区的位置耦合在探测装置的探测射线通道内,以及光基准射线有一个具有至少一个处于规定的光谱探测范围内的窄波段的光谱,和/或有一个具有至少一个处于规定的光谱探测范围内的边缘的光谱;以及,

一个控制和评估装置,它设计为,为了检验和/或为了调准探测装置和/或在评估体现有价证券发出的探测射线的至少一种特性的探测信号时,使用体现基准射线特性的探测信号。

2.按照权利要求1所述的传感装置,其中,基准射线装置设计为,使基准射线光谱在光谱探测范围内的波段有小于5nm的宽度。

3.按照权利要求1或2所述的传感装置,其中,基准射线装置作为基准射线源包括表面发射式激光二极管。

4.按照权利要求3所述的传感装置,其中,在表面发射式激光二极管后直至探测装置的射线通道内,不设聚焦的光学元件。

5.按照权利要求1或2所述的传感装置,其中,基准射线装置作为基准射线源包括温度稳定的边缘发射式激光二极管,或具有波长选择性光谐振器的边缘发射式激光二极管。

6.一种传感装置,用于光谱分析地检测由一个沿规定输送方向通过传感装置检测区输送的有价证券发出的光探测射线,该传感装置包括:

一个探测装置,用于在至少一个规定的光谱探测范围内光谱分析地检测探测射线和输出探测信号,这些探测信号体现被探测的探测射线至少一种特性,尤其是光谱特性;

至少一个基准射线装置,它作为基准射线源有表面发射式激光二极管,或DFR或DBR激光二极管,以及它发射光基准射线,光基准射线至少部分独立于或根据有价证券相对于检测区的位置耦合在探测装置的探测射线通道内,以及光基准射线有一个具有至少一个处于规定的光谱探测范围内的窄波段的光谱;以及

一个控制和评估装置,它设计为,为了检验和/或为了调准探测装置和/或在评估体现有价证券发出的探测射线的至少一种特性的探测信号时,使用体现基准射线特性的探测信号。

7.按照权利要求6所述的传感装置,其中,基准射线装置的基准射线至少部分根据有价证券相对于检测区的位置耦合在探测装置的探测射线通道内。

8.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,其中,探测装置设计为,使探测信号作为特性体现一个光谱特性,以及其中,控制和评估装置进一步设计为,在检验或调准或评估时使用通过探测信号体现的基准射线光谱特性。

9.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,其中,探测装置设计为,使探测信号作为特性体现强度,以及其中,控制和评估装置进一步设计为,在检验或调准或评估时使用通过探测信号体现的基准射线强度。

10.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,它有至少一个通过信号连接与控制和评估装置连接的温度传感器,用于检测至少部分探测装置和/或部分基准射线装置和/或与探测装置和/或基准射线装置连接的温度补偿元件的温度,以及其中,控制和评估装置进一步设计为,在检验或调准或评估时也使用检测到的温度。

11.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,它有一个用于照明至少部分检测区的照明装置和至少一个通过信号连接与控制和评估装置连接的温度传感器,用于检测至少部分照明射线装置和/或与之连接的温度补偿元件的温度,以及其中,控制和评估装置进一步设计为,在检验或调准或评估时使用检测到的温度。

12.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,其中,探测装置设计为,使光谱探测范围有小于400nm的宽度。

13.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,其中,探测装置有带有空间分辨率的CMOS、NMOS或CCD阵列。

14.按照前列诸权利要求之一所述的传感装置,其中,探测装置有一种各探测元件的配置,使探测元件的信号可互相独立优选地平行读出。

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