[发明专利]用于探测印版边缘对准的设备与方法有效
申请号: | 200980136333.4 | 申请日: | 2009-09-03 |
公开(公告)号: | CN102159478A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | Y·德罗尔 | 申请(专利权)人: | 伊斯曼柯达公司 |
主分类号: | B65H7/14 | 分类号: | B65H7/14;B65H9/20 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘佳斐;蔡胜利 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 边缘 对准 设备 方法 | ||
1.一种用于探测放置于版托盘上方的顶印版的未对准的系统,该版展示了版边缘,其中,根据预定的坐标来探测该对准,该系统包括:
照明源,其设置成以预定的立体角将光束导向在多个版边缘的至少一个特定版边缘上,该立体角选择成使得该光束展示覆盖该顶版的一部分、该特定边缘以及该版托盘的一部分的光斑点;
扫描仪,其设置成扫描该光斑点,并且产生其图像;以及
分析器,其设置成通过分析该扫描的光斑点的图像特性与涉及覆盖完好对准的顶印版的版边缘的光斑点的预定特性之间的差异来探测该顶印版的未对准。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述分析器被进一步设置成将该扫描的光斑点的特定图像转换为对应的信号,并且其中,通过将该扫描的光斑点的该特定图像的信号与预定的多个信号相比较而实现顶印版未对准的探测,该多个预定的多个信号中的每一个与展示特殊坐标的特殊印版未对准相关联。
3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述扫描的光斑点根据该顶印版的该未对准展示光强度的变化,并且其中,所述分析器被进一步布置成根据所述扫描的光斑点中的该光强度的变化而探测该顶印版的该未对准。
4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述扫描的光斑点展示阴影线,其中,该阴影线的位置与该顶印版的该未对准相关联,并且其中,所述分析器被进一步布置成根据该阴影线的位置探测该顶印版的特定边缘的位置。
5.根据权利要求1所述的系统,其中,所述照明源包括激光源。
6.根据权利要求5所述的系统,其中,所述激光源包括至少一个激光指示器。
7.根据权利要求1所述的系统,其中,在该光束与该顶印版之间的角度在大约5度至15度之间的范围内。
8.根据权利要求1所述的系统,其中,所述扫描仪包括数字照相机。
9.一种用于探测放置于版托盘上方的顶印版的未对准的方法,该版展示了版边缘,其中,根据预定的坐标来探测该对准,该方法包括:
以预定的立体角将光束导向在多个版边缘的至少一个特定版边缘上,该立体角选择成使得该光束展示覆盖该顶版的一部分、该特定边缘以及该版托盘的一部分的光斑点;
扫描该光斑点,并且产生其图像;
通过分析该扫描的光斑点的图像特性与涉及覆盖完好对准的顶印版的版边缘的光斑点的预定特性之间的差异来探测该顶印版的未对准。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,在探测该顶印版的该未对准之前,将所述扫描的光斑点的特定图像转换为对应的信号,并且其中,通过将所述扫描的光斑点的该特定图像的信号与预定的多个信号相比较而实现顶印版未对准的探测,该多个预定的多个信号中的每一个与展示特殊坐标的特殊印版未对准相关联。
11.根据权利要求9所述的方法,其中,该扫描的光斑点根据该顶印版的该未对准展示光强度的变化,并且其中,根据所述扫描的光斑点中的该光强度的变化来执行该顶印版的该未对准的探测。
12.根据权利要求9所述的方法,其中,所述扫描的光斑点展示阴影线,并且其中,该阴影线的位置与该顶印版的该未对准相关联,并且其中,根据该阴影线的位置来执行该顶印版的该特定边缘的位置的探测。
13.一种计算机直接制版(CTP)成像装置,其包括用于探测放置于版托盘上方的顶印版的未对准的系统,该版托盘可操作地与该CTP成像装置相关联,该版展示了版边缘,其中,根据预定的坐标来探测该对准,该系统包括:
照明源,其设置成以预定的立体角将光束导向在多个版边缘的至少一个特定版边缘上,该立体角选择成使得该光束展示覆盖该顶版的一部分、该特定边缘以及该版托盘的一部分的光斑点;
扫描仪,其设置成扫描该光斑点,并且产生其图像;以及
分析器,其设置成通过分析该扫描的光斑点的图像特性与涉及覆盖完好对准的顶印版的版边缘的光斑点的预定特性之间的差异来探测该顶印版的未对准。
14.根据权利要求13所述的CTP成像装置,其中,所述分析器被进一步设置成将所述扫描的光斑点的特定图像转换为对应的信号,并且其中,通过将所述扫描的光斑点的该特定图像的信号与预定的多个信号相比较而实现顶印版未对准的探测,该多个预定的多个信号中的每一个与展示特殊坐标的特殊印版未对准相关联。
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