[发明专利]具有频率梳和同步方案的干涉仪有效

专利信息
申请号: 200980137125.6 申请日: 2009-07-20
公开(公告)号: CN102159926A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 盖伊·盖拉切维里;西奥多·W·亨施;纳塔莉·佩克 申请(专利权)人: 国立科学研究中心;马克斯普朗克科学促进基金会
主分类号: G01J3/453 分类号: G01J3/453
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;张旭东
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 具有 频率 同步 方案 干涉仪
【权利要求书】:

1.一种干涉仪(1),该干涉仪包括:

第一频率梳发生器(FC1);

适于与所述第一频率梳发生器(FC1)相互作用以便生成干涉(I)的第二频率梳发生器(FC2);

其中,所述干涉仪包括用于将所述第一频率梳的第一单条谱线和所述第二频率梳的第二单条谱线隔离的装置(3、4)和用于根据所述第一单条谱线与所述第二单条谱线生成至少一个差拍信号的差拍装置。

2.根据权利要求1所述的干涉仪,该干涉仪还包括第一外部光学基准发生器和第二外部光学基准发生器,其中,所述差拍装置适于生成所述第一单条谱线与所述第一外部光学基准的第一差拍信号以及所述第二单条谱线与所述第二外部光学基准的第二差拍信号。

3.根据权利要求1所述的干涉仪,其中,所述差拍装置被设置为生成所述第一单条谱线与所述第二单条谱线的差拍信号。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的干涉仪,其中,所述隔离装置包括光学滤波器和/或光纤布拉格光栅和/或法布里-泊罗标准具和/或电子滤波。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的干涉仪,其中,所述隔离装置包括连续波激光器,该连续波激光器适于与所述第一频率梳发生器和所述第二频率梳产生差拍。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的干涉仪,该干涉仪还包括测量装置,该测量装置适于根据权利要求1中限定的所述差拍信号来触发对所述干涉的数据采集。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的干涉仪,该干涉仪还包括测量装置,该测量装置适于使用权利要求1中限定的所述差拍信号作为针对所述干涉的数据采集的时钟。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的干涉仪,该干涉仪具有两个输出(A、B)和用于差动地测量所述两个输出的装置。

9.一种用于测量样本的光谱的光谱分析装置,该光谱装置包括根据前述权利要求中的任一项所述的干涉仪,所述第一频率梳发生器和所述第二频率梳发生器中的至少一个适于与所述样本相互作用。

10.根据前述权利要求所述的光谱分析装置,其中,所述第一频率梳发生器和所述第二频率梳发生器中的仅一个适于与所述样本相互作用。

11.根据权利要求8所述的光谱分析装置,其中,所述第一频率梳发生器和所述第二频率梳发生器适于与所述样本相互作用。

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