[发明专利]操控装置以及运行具有改善的接近检测的操控装置的方法有效

专利信息
申请号: 200980137248.X 申请日: 2009-09-09
公开(公告)号: CN102159420A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: C·瓦勒;K·巴赫菲舍尔;L·本德瓦尔德 申请(专利权)人: 大众汽车有限公司
主分类号: B60K37/06 分类号: B60K37/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李少丹;李家麟
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 操控 装置 以及 运行 具有 改善 接近 检测 方法
【权利要求书】:

1.操控装置(1),包括至少一个用来检测用户输入的操控元件和接近识别装置,该接近识别装置被构造用于在触摸所述至少一个操控元件之前检测用户的操纵元件、尤其是身体部分对该操控元件的接近,

其特征在于,

所述接近识别装置包括反射式光栅,所述反射式光栅具有至少一个用于在所述至少一个操控元件前方将电磁探测辐射(35)发射到不包括所述至少一个操控元件前方全部体积的有限空间探测区(4)之中的发光装置(22a-22d),并且具有用于探测在接近所述至少一个操控元件时在用户的操纵元件上所散射和/或反射的部分探测辐射(35)的接收元件(28);其中所述接近识别装置被构造用于根据所接收的探测辐射的强度识别出接近。

2.根据权利要求1所述的操控装置(1),其特征在于,所述至少一个操控元件是触摸屏(2),该触摸屏与控制装置相连,该控制装置在识别出操纵元件的接近时改变在触摸屏(2)显示面(3)上的图形显示。

3.根据权利要求2所述的操控装置(1),其特征在于,为了检测用户输入,设置有与所述触摸屏(2)的显示面(3)的边缘(5)相邻布置的至少一个附加操控元件(7),其中在所述触摸屏(2)的边缘(5)和所述至少一个附加操控元件(7)之间将至少一个发光装置(22a-22d)的探测辐射发射到处于探测平面中的探测区(4)之中,其中所述探测平面与显示面(3)的平面夹成小于90°的角度(α),从而在操纵元件没有伸入到探测区(4)之中的情况下能够操纵所述至少一个附加操控元件(7)。

4.根据上述权利要求中任一项所述的操控装置(1),其特征在于,所述接近识别装置包括一个或多个被构造用来将探测辐射发射到探测区(4)之中的附加发光装置(22a-22d),其中所述至少一个发光装置(22a-22d)和该或这些附加发光装置(22a-22d)分别将其探测辐射发射到探测区(4)的不同空间区域(4a-4d)之中。

5.根据权利要求4所述的操控装置(1),其特征在于,所述接近识别装置包括:至少一个另外的发光装置,用来将电磁探测辐射发射到不同于该探测区(4)的另外的探测区(41,42)之中;至少一个调制装置,用来对至少一个发光装置所发射的探测辐射进行调制,至少使得发射到所述至少一个另外的探测区(41,42)之中的另外的探测辐射在其调制方面有别于发射到探测区(4)之中的探测辐射;并且包括分析单元,该分析单元被构造用来对所接收的反射和/或散射的探测辐射在其调制方面进行分析,以便至少将发射到所述另外的探测区(41,42)之中的被散射和/或反射的部分探测辐射与发射到所述探测区(4)之中的被散射和/或反射的这部分探测辐射分开进行确定,并且根据所接收的、被发射到所述至少一个另外的探测区(41,42)之中的被反射和/或散射的探测辐射部分的强度来识别操纵元件伸入到所述至少一个另外的探测区(41,42)之中。

6.根据上述权利要求中任一项所述的操控装置(1),其特征在于,所述控制装置被构造为当除了识别出接近所述至少一个操控元件还识别出操纵元件伸入到所述至少一个另外的探测区(41,42)之中时不改变显示。

7.根据上述权利要求中任一项所述的操控装置(1),其特征在于,所述调制装置被构造用来对由所述至少一个发光装置(22a-22d)和该或这些附加发光装置(22a-22d)发射到探测区之中的探测辐射(35)发光装置个体地进行调制,以及所述分析单元被构造用来对所接收的散射和/或反射探测辐射在其调制方面发光装置个体地进行分析,以便分开地确定反射/散射到探测区(4)的不同空间区域(4a-4d)之中的部分,并且由此得出所述操纵元件在所述至少一个操控元件前方的位置。

8.根据上述权利要求中任一项所述的操控装置(1),其特征在于,所述接近识别单元被构造为根据时间上相继检测到的操纵元件的位置得出操纵元件的运动。

9.根据上述权利要求中任一项所述的操控装置(1),其特征在于,所述至少一个发光装置(22a-22d)和/或该或这些附加发光装置(22a-22d)和/或所述至少一个另外的发光装置分别与将探测辐射的发射导向扇形空间区域之中的光学装置耦合。

10.根据权利要求9所述的操控装置(1),其特征在于,所述光学装置包括用来将探测辐射聚焦到空间平面之中的圆柱形透镜(23)。

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