[发明专利]用于借助x射线辐射对检测对象进行材料检测的装置有效
申请号: | 200980137341.0 | 申请日: | 2009-01-13 |
公开(公告)号: | CN102165308A | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
发明(设计)人: | J·克拉默;I·施图克;N·布莱特泽克;H·卢克斯;M·维斯滕贝克尔;T·F·古恩泽勒 | 申请(专利权)人: | GE传感与检测技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01M17/013 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 吴鹏;马江立 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 借助 射线 辐射 检测 对象 进行 材料 装置 | ||
1.一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置,包括一x射线装置(20)和一电子控制装置(38),该x射线装置包括一用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和一设计成行探测器的x射线探测器(13),该电子控制装置设置用于控制所述x射线装置(20),其中在x射线检测期间,所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动,其特征在于,所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A,13B,...),所述探测部分设置用于在完整的径向截面(52A,52B,...)上检测所述检测对象。
2.根据权利要求1的装置,其特征在于,所述x射线探测器(13)以弧形的方式围绕所述检测对象(15)布置。
3.根据权利要求1或2的装置,其特征在于,所述探测部分(13A,13B,...)呈L形。
4.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,所述x射线探测器(13)设置用于在完整的全截面上检测所述检测对象(15)。
5.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,对于每个检测对象(15),所述控制装置(38)分别以用于所述x射线装置(20)的不同工作参数来驱控所述x射线装置(20)以便记录该检测对象的至少两辐完整的单帧图像。
6.根据权利要求5的装置,其特征在于,为记录一幅单帧图像,所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)相对于彼此转过小于360°的转动角度。
7.根据权利要求5或6的装置,其特征在于,为记录一幅单帧图像,所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)相对于彼此转过大致180°度的转动角度。
8.根据权利要求5至7中任一项的装置,其特征在于,所述控制装置(38)设置用于适当地将所记录的、所述检测对象(15)的单帧图像合并为一幅全图像。
9.根据权利要求5至8中任一项的装置,其特征在于,所述控制装置(38)设置用于根据所述检测对象(15)的不同壁厚度的区域对所述工作参数进行调节。
10.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,为了进行所述x射线检测,所述支承件(33)连同被保持在该支承件上的所述检测对象(15)一起能够围绕所述转动轴线(R)整体转动。
11.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,所述检测对象(15)在整个装载操作和检测操作期间保持在一连续的输送平面(T)内。
12.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,所述x射线源(12)是呈现至少45°扇角的扇束x射线管。
13.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,为匹配于不同的检测对象(15),所述x射线源(12)和/或所述x射线探测器(13)能够相对于该检测对象被调节。
14.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,所述控制装置(38)用于自动地将检测对象(15)送入所述检测位置或从所述检测位置送出。
15.根据前述权利要求中任一项的装置,其特征在于,该装置包括为环境屏蔽x射线辐射的辐射防护舱(11)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于GE传感与检测技术有限公司,未经GE传感与检测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980137341.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。