[发明专利]频率特性测定装置无效

专利信息
申请号: 200980137763.8 申请日: 2009-09-14
公开(公告)号: CN102165324A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 青山悟;土井弥 申请(专利权)人: 株式会社艾德温特斯特
主分类号: G01R23/173 分类号: G01R23/173
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 毛利群;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 频率特性 测定 装置
【权利要求书】:

1.一种频率特性测定装置,具备:

多个测定单元,对多个输入信号的每一个分别测定频率特性;

触发控制单元,将指定所述多个测定单元的每一个中的测定开始定时的多个触发信号进行输出;以及

扫描控制单元,与从所述触发控制单元输出的所述多个触发信号同步地控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作。

2.根据权利要求1所述的频率特性测定装置,其中,

所述多个测定单元的每一个包含:振荡频率可变更的局部振荡器;以及将从所述局部振荡器输出的局部振荡信号和从输入端子输入的信号进行混频并输出的混频器,

从所述局部振荡器输出表示所述局部振荡器的动作状态的状态信号,

所述扫描控制单元对所述测定单元进行频率扫描动作的控制,所述测定单元包含已通知基于所述状态信号可动作的状态的所述局部振荡器。

3.根据权利要求1所述的频率特性测定装置,其中,

所述扫描控制单元具备:

选择单元,选择所述多个触发信号的任一个;以及

多个扫描单元,与由所述选择单元选择的一个所述触发信号同步地个别控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作。

4.根据权利要求1所述的频率特性测定装置,其中,

所述扫描控制单元具备:

多个选择单元,以使所述多个触发信号不重复的方式进行选择;以及

多个扫描单元,与由所述多个选择单元选择的多个所述触发信号分别同步地个别控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作。

5.根据权利要求2所述的频率特性测定装置,其中,

所述扫描控制单元具备:

选择单元,选择所述多个触发信号的任一个;

多个扫描单元,输入由所述选择单元选择的一个所述触发信号,并且与该触发信号同步地个别控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作;以及

触发输入限制单元,在表示与所述多个测定单元的每一个对应的所有的所述状态信号为可动作状态的情况下,许可向所述多个扫描单元的所述触发信号的输入。

6.根据权利要求5所述的频率特性测定装置,其中,

所述多个扫描单元的每一个在表示与所述多个测定单元的每一个对应的所有的所述状态信号为可动作状态的情况下,进行控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作的动作。

7.根据权利要求1所述的频率特性测定装置,其中,

所述扫描控制单元具备:

选择单元,选择所述多个触发信号的任一个;

多个扫描单元,输入由所述选择单元选择的一个所述触发信号,并且与该触发信号同步地个别控制所述多个测定单元的每一个中的频率扫描动作;以及

延迟单元,对所述多个测定单元的一部分使所述触发信号的输入定时延迟规定时间。

8.根据利要求1所述的频率特性测定装置,其中,

所述多个测定单元的每一个具备:局部振荡器,该局部振荡器由包含可变分频器、相位比较器、VCO的PLL电路构成,

所述扫描控制单元通过使所述可变分频器的分频比变化而进行频率扫描动作的控制。

9.根据权利要求8所述的频率特性测定装置,其中,

所述局部振荡器具备:频率可变范围不同的多个所述VCO,

并且,切换多个所述VCO。

10.根据权利要求1所述的频率特性测定装置,其中,

所述多个测定单元的每一个具备:输出可频率扫描的局部振荡信号的局部振荡器;将所述局部振荡信号和所述输入信号进行混频的混频器;以及,对从所述混频器输出的信号进行频率特性的测定的中频处理部。

11.根据权利要求10所述的频率特性测定装置,其中,

所述中频处理部具备:

带通滤波器,仅使从所述混频器输出的信号中的规定的中频成分通过;

模拟-数字转换器,将从所述带通滤波器输出的中频信号以规定的采样频率转换成数字数据;以及

DSP,通过对从所述模拟-数字转换器输出的数据进行信号处理来测定所述中频信号的特性值。

12.根据权利要求11所述的频率特性测定装置,其中,

由所述DSP测定的特性值是信号电平。

13.根据权利要求11所述的频率特性测定装置,其中,

由所述DSP测定的特性值是误码率。

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