[发明专利]光学传感器

权利要求书

1. 一种用于检测在照射时通过物体中或物体上的微反射体的随机分布和/或取向所产生的反射模式的传感器，该传感器至少包括：

－电磁射束源，其被布置为使得电磁射束能够以角度                                               被发送到物体上，

－用于接收电磁射束的光电探测器，其被布置为使得检测从物体以角度δ被反射的射束，

其特征在于，角度和的绝对值不同。

2. 根据权利要求1所述的传感器，其特征在于，角度相对于物体的被照射表面的法线处于0至60°的范围内、优选15°至40°的范围内、特别优选20°至35°的范围内、以及极其优选25°至30°的范围内。

3. 根据权利要求1或2之一所述的传感器，其特征在于，角度的绝对值处于至的范围内、优选至的范围内、特别优选至的范围内，其中始终有并且成立，并且角度是相对于物体表面的法线而言的。

4. 根据权利要求1至3之一所述的传感器，其特征在于，该传感器包括n＝1至4个、优选n＝1至2个射束源以及每射束源两个光电二极管，其中分别有两个光电探测器与分别一个射束源布置在一个平面内，其中分别有两个光电探测器检测以角度和被物体反射的射束，其中处于5°至60°的范围内、优选5°至30°的范围内、特别优选10°至20°的范围内并且其中始终应当有并且成立。

5. 根据权利要求1至4之一所述的传感器，其特征在于，还包括用于产生线形射束轮廓的光学元件。

6. 根据权利要求1至5之一所述的传感器，其特征在于，线形射束轮廓具有5μm至50μm范围内、优选10μm至40μm范围内、特别优选20μm至30μm范围内的射束厚度，以及2.5mm至7mm范围内、优选3mm至6.5mm范围内、特别优选4mm至6mm范围内、并且极其特别优选4.5mm至5.5mm范围内的射束宽度。

7. 根据权利要求1至6之一所述的传感器，其特征在于，射束的焦点与传感器相距0.5mm至10mm范围内的距离。

8. 根据权利要求1至5之一所述的传感器，其特征在于，借助于与传感器相距0.5mm至10mm距离的光阑能够产生2mm至5mm范围内、优选2.5mm至3.5mm范围内的射束宽度，以及200μm至1000μm范围内、优选200μm至400μm范围内的射束厚度。

9. 根据权利要求1至8之一所述的传感器，其特征在于，还包括被实施为一块或两块的块，该块具有用于容纳电磁射束源的第一馈通部和用于容纳光电探测器的两个另外的馈通部。

10. 根据权利要求1至9之一所述的传感器，其特征在于，还包括用于将传感器与另外的传感器或者与保持装置相连接的连接装置。

11. 一种装置，包括两个或更多个根据权利要求1至10之一所述的直接地或者通过间隔垫片能够拆卸地彼此连接的传感器。

12. 一种将根据权利要求1至10之一所述的传感器或者根据权利要求11所述的装置用于根据微反射体的随机分布和/或取向识别和/或认证一个或多个物体的应用。

13. 根据权利要求12所述的应用，其特征在于，射束宽度和射束厚度与微反射体的浓度和大小相匹配，其中射束厚度优选处于微反射体的平均大小的数量级并且射束宽度处于两个微反射体的平均距离的数量级。

14. 根据权利要求12或13所述的应用，其特征在于，所述传感器或所述装置被引导到物体表面上方的0.5mm至10mm的距离处。

15. 根据权利要求12至14之一所述应用，包括下列步骤：

（A）相对于所述传感器或所述装置对物体进行定向，

（B）用电磁射束照射物体的至少一部分，

（C）探测在微反射体处反射的射束，

（D）改变物体相对于所述传感器或所述装置的相对位置，

（E）必要时多次重复步骤（B）、（C）和（D），

（F）将根据所述相对位置探测到的反射模式与至少一个额定模式相比较，

（G）根据步骤（F）中的比较结果输出关于物体的标识和/或真实性的通知。