[发明专利]用于监视和控制向起皱烘缸涂敷性能增强材料的方法有效
申请号: | 200980140372.1 | 申请日: | 2009-10-07 |
公开(公告)号: | CN102177294A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | W·A·冯德拉赛克;R·H·班克斯;G·S·福尔曼 | 申请(专利权)人: | 纳尔科公司 |
主分类号: | D21F11/14 | 分类号: | D21F11/14;B31F1/12;D21G9/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 刘佳 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 监视 控制 起皱 烘缸涂敷 性能 增强 材料 方法 | ||
1.一种用于监视和任选地控制在起皱烘缸的表面上涂敷含性能增强材料(PEM)的涂层的方法,包括:
(a)把涂层涂敷到起皱烘缸的表面上;
(b)通过微分法来测量起皱烘缸的表面上的涂层的厚度,其中所述微分法利用不与所述涂层物理接触的多个装置;
(c)响应于所述涂层的厚度,任选地调节所述起皱烘缸的一个或多个确定区域中的所述涂层的涂敷,以便在起皱烘缸的表面上提供厚度均匀的涂层;以及
(d)任选地应用附加的设备,以监视和任选地控制除了起皱烘缸上的涂层的厚度之外所述涂层的其它方面。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所利用的所述多个装置之一是涡电流传感器。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述微分法包括下列步骤:应用涡电流传感器以测量从传感器到起皱烘缸的表面的距离;以及应用光学位移传感器以测量从涂层表面到传感器的距离。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述光学位移传感器是激光三角测量传感器或有色型共焦传感器。
5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:应用电容探测器以测量所述涂层的潮气含量;将电容测量值与微分法测量值进行比较以确定潮气对涂层厚度的影响;以及响应于通过微分法所确定的潮气对厚度的影响任选地调节起皱烘缸表面上的涂层的量和分布和/或调节所述涂层的量。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,还包括:
a.应用IR温度探测器以测量起皱烘缸的温度分布;
b.应用IR温度探测器以测量用于校正与温度有关的潮气介电常数所需要的涂层温度;以及
c.把经校正的潮气介电常数应用于电容测量值以确定正确的涂层潮气浓度。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括应用超声波传感器来测量所述涂层的模数,并且任选地其中,使用模数值来测量所述涂层的硬度。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,使所述多个装置在起皱烘缸上平移以提供厚度的分布且任选地提供潮气含量和/或温度和/或模数的分布。
9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,使所述多个装置位于起皱刀片和清洁刀片之间、在清洁刀片之后、或在纸巾网被压入到涂层中之前、或上述的任何组合。
10.如权利要求1所述的方法,其特征在于,用清洁气体清理所述多个装置以防止污垢、薄雾干扰、灰尘干扰、过热或它们的组合。
11.一种用于监视和任选地控制在起皱烘缸的表面上涂敷含性能增强材料(PEM)的涂层的方法,包括:
(a)把涂层涂敷到起皱烘缸表面上;
(b)提供具有源波长的干涉仪探测器,所述源波长给出穿过起皱烘缸表面上涂层的足够大的透射;
(c)应用干涉仪探测器以测量来自涂层空气表面和起皱烘缸的涂层缸表面的反射光以确定起皱烘缸上的涂层的厚度;
(d)响应于所述涂层的厚度任选地调节在所述起皱烘缸的一个或多个确定区域中的所述涂层的涂敷以便在起皱烘缸的表面上提供厚度均匀的涂层;以及
(e)任选地应用附加的设备以监视和任选地控制除了起皱烘缸上的涂层的厚度之外该涂层的其它方面。
12.如权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:应用潮气传感器来测量所述涂层的潮气含量;将潮气传感器测量值与微分法测量值进行比较以确定潮气对涂层厚度的影响;以及响应于通过微分法所确定的潮气对厚度的影响任选地调节起皱烘缸表面上的涂层的量和分布和/或调节所述涂层的量,其中所述潮气传感器任选地在近红外波长处测量所述涂层的组分。
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