[发明专利]测试条的红外温度测量

权利要求书

1. 一种方法，该方法包括利用红外传感器来评估与插入分析物测量系统中的测试条相关的温度，

其中所述系统包括：

壳体；

分析物测量部件，其设置在所述壳体内或靠近所述壳体设置，并具有用于接纳所述测试条的缝隙，其中所述分析物测量部件测量所述测试条上的分析物，从而提供分析物测量数据；

所述红外传感器，其至少部分地设置在所述壳体内；以及

处理器，其设置在所述壳体内，利用来自所述红外传感器的温度数据来调整所述分析物测量数据。

2. 根据权利要求1所述的方法，其中所述红外传感器基本上设置在所述壳体内。

3. 根据权利要求1所述的方法，其中所述测试条为电化学测试条。

4. 根据权利要求1所述的方法，其中所述系统还包括光导，其用于将红外辐射从与测试条相关的位置引导至所述红外传感器。

5. 根据权利要求4所述的方法，其中所述光导和所述红外传感器是基本上等温的。

6. 根据权利要求4所述的方法，其中所述光导包括光管。

7. 根据权利要求1所述的方法，其中所述红外传感器利用波长为约8μm至约14μm的红外辐射来评估与所述测试条相关的所述温度。

8. 根据权利要求1所述的方法，其中所述测试条具有长度?，并且其中评估在所述测试条的一部分上的所述温度，所述测试条的一部分位于距插入所述分析物测量部件的缝隙中的测试条末端的距离不超过约1/3?处。

9. 根据权利要求1所述的方法，其中所述红外传感器评估在插入所述分析物测量部件的缝隙中的所述条的一部分上的所述温度。

10. 根据权利要求9所述的方法，其中在所述测试条插入所述分析物测量部件的缝隙中之后的约5秒或更短时间内评估所述温度。

11. 根据权利要求1所述的方法，其中所述测试条具有长度?，并且其中评估在所述测试条的一部分上的所述温度，所述测试条的一部分位于距插入所述分析物测量部件的缝隙中的测试条末端的距离大于约1/3?处。

12. 根据权利要求1所述的方法，其中所述测试条具有长度?，并且其中评估在所述测试条的一部分上的所述温度，所述测试条的一部分位于距插入所述分析物测量部件的缝隙中的测试条末端的距离大于约2/3?处。

13. 根据权利要求1所述的方法，还包括在对所述测试条上的分析物进行测量的过程中补偿所评估的与所述测试条相关的所述温度。

14. 根据权利要求1所述的方法，还包括调整在对所述测试条上的分析物进行测量的过程中获取的数据以补偿所评估的与所述测试条相关的所述温度。

15. 根据权利要求1所述的方法，其中所述分析物测量系统为血糖仪。

16. 根据权利要求1所述的方法，其中评估在所述测试条上的多于一个位置上的所述温度。

17. 根据权利要求1所述的方法，其中与所述测试条相关的所述温度被评估多于一次。

18. 根据权利要求17所述的方法，其中评估在所述测试条上的多于一个位置上的所述温度。

19. 一种系统，其包括：

壳体；

分析物测量部件，其设置在所述壳体内或靠近所述壳体设置，并具有用于接纳测试条的缝隙，其中所述分析物测量部件测量所述测试条上的分析物，从而提供分析物测量数据；

红外传感器，其至少部分地设置在所述壳体内；以及

处理器，其设置在所述壳体内，利用来自所述红外传感器的温度数据来调整所述分析物测量数据。

20. 根据权利要求19所述的系统，其中所述红外传感器基本上设置在所述壳体内。

21. 根据权利要求19所述的系统，其中所述分析物测量部件和所述红外传感器二者均与所述处理器电子通信。

22. 根据权利要求19所述的系统，其中所述系统还包括光导，其用于将红外辐射从与测试条相关的位置引导至所述红外传感器。

23. 根据权利要求22所述的系统，其中所述光导和所述红外传感器是基本上等温的。