[发明专利]具有初始非均匀性补偿的电致发光显示器

权利要求书

1.一种对多个电致发光EL子像素的特性差异进行补偿的方法，该方法包括以下步骤：

(a)为多个EL子像素中的每个EL子像素提供具有第一电极、第二电极和栅极的驱动晶体管；

(b)提供第一电压源和第一开关，该第一开关用于选择性地将第一电压源连接至每个驱动晶体管的第一电极；

(c)为连接至相应驱动晶体管的第二电极的每个EL子像素提供EL发射器，并提供第二电压源和第二开关，该第二开关用于选择性地将每个EL发射器连接至第二电压源；

(d)为每个EL子像素提供具有第一电极和第二电极的读出晶体管，并且将每个读出晶体管的第一电极连接至相应驱动晶体管的第二电极；

(e)提供电流源和第三开关，该第三开关用于选择性地将该电流源连接至每个读出晶体管的第二电极；

(f)提供电流阱和第四开关，该第四开关用于选择性地将该电流阱连接至每个读出晶体管的第二电极；

(g)选择EL子像素及其对应的驱动晶体管、读出晶体管和EL发射器；

(h)向所选择的驱动晶体管的栅极提供测试电压，并且提供连接至所选择的读出晶体管的第二电极的电压测量电路；

(i)闭合第一开关和第四开关，打开第二开关和第三开关，并使用所述电压测量电路来测量所选择的读出晶体管的第二电极处的电压，以提供表示所选择的驱动晶体管的特性的对应第一信号；

(j)打开第一开关和第四开关，闭合第二开关和第三开关，并使用所述电压测量电路来测量所选择的读出晶体管的第二电极处的电压，以提供表示所选择的EL发射器的特性的对应第二信号；

(k)针对所述多个EL子像素中其余的每个EL子像素重复步骤g至步骤j；以及

(l)使用每个子像素的第一信号和第二信号来补偿所述多个EL子像素的特性差异。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述电压测量电路包括模数转换器。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述电压测量电路还包括低通滤波器。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，针对预定数量的EL子像素执行步骤g至步骤j，在此期间，所述预定数量的EL子像素被同时驱动。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤j包括：将所测得的所述多个EL子像素中的每个EL子像素的第一信号和第二信号分别与第一目标信号和第二目标信号进行比较，以对所述EL子像素的特性差异进行补偿。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述EL子像素被布置成多行多列，该方法还包括以下步骤：为每一行提供连接至该行中的选择晶体管的栅极的选择线，并且为每一列提供连接至该列中的所述读出晶体管的第二电极的读出线。

7.根据权利要求6所述的方法，该方法还包括以下步骤：使用连接至所述多个读出线的复用器，顺序地读出所述预定数量的EL子像素的第一信号和第二信号。

8.根据权利要求1所述的方法，该方法还包括以下步骤：提供连接至所述驱动晶体管的栅极的选择晶体管，并且其中，该选择晶体管的栅极连接至所述读出晶体管的栅极。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，每个EL发射器都是OLED发射器，并且其中，每个EL子像素都是OLED子像素。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，每个驱动晶体管都是低温多晶硅驱动晶体管。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个EL子像素组成了EL显示器，并且其中，在该EL显示器的工作寿命之前执行步骤g至步骤k的测量。