[发明专利]异质LIGA 方法有效
申请号: | 200980142873.3 | 申请日: | 2009-10-07 |
公开(公告)号: | CN102197165A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | G·雷-梅尔梅特 | 申请(专利权)人: | 尼瓦洛克斯-法尔股份有限公司 |
主分类号: | C25D1/00 | 分类号: | C25D1/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 柴智敏;吴鹏 |
地址: | 瑞士勒*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 异质 liga 方法 | ||
1.制造金属显微结构的方法,该金属显微结构至少包括用第一金属材料制成的第一元件(5),该第一元件插入由第二金属材料制成的第二元件(10)中,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
a)提供具有导电打底表面(2)的衬底(1、2);
b)-d)通过UV光刻法形成第一树脂模型(3b),该第一树脂模型中的开口显露出衬底的导电打底表面(2);
e)通过在第一树脂模型(3b)的开口中电沉积第一金属材料来电铸第一元件(5);
f)除去第一元件(5)周围的第一模型(3b)以便露出衬底的导电打底表面(2);
g)-i)通过UV光刻法形成新的树脂模型,在新树脂模型(7b)中的开口显露出第一元件(5)和衬底的导电打底表面(2);
j)通过在新树脂模型(7b)的开口中电沉积第二金属材料来电铸第二元件(10),以便形成所述金属显微结构;
k)使所述金属显微结构与衬底(1)和所述新模型(7b)分离。
2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤b)-d)和g)-i)分别包括用光敏树脂层(3、7)涂覆衬底的表面、穿过与所需图形空腔一致的掩膜(4、8)照射光敏树脂层(3、7)及显影光敏树脂层(3、7)以便在光敏树脂层中制成所述开口。
3.根据权利要求1或2所述的制造方法,其特征在于,它包括在步骤e)和/或步骤j)之前,用于清洗和活化衬底(1)上存在的树脂(3、7)的表面的等离子体曝光步骤。
4.根据上述权利要求中任一项所述的制造方法,其特征在于,它包括在步骤j)之后调平金属显微结构的步骤n)。
5.根据权利要求1、2或3所述的制造方法,其特征在于,它包括在步骤k)之后调平金属显微结构的步骤n)。
6.根据上述权利要求中任一项所述的制造方法,其特征在于,衬底(1)还包括促进步骤k)的牺牲层。
7.根据上述权利要求中任一项所述的制造方法,其特征在于,衬底(1)由硅、玻璃或陶瓷材料形成。
8.根据权利要求7所述的制造方法,其特征在于,导电打底表面(2)由铬和金层堆叠形成。
9.根据权利要求1-6中任一项所述的制造方法,其特征在于,衬底(1)由不锈钢或形成所述导电打底表面的金属形成。
10.根据上述权利要求中任一项所述的制造方法,其特征在于,在同一衬底(1)上同时制成多个显微结构。
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