[发明专利]通过图像分析计算合金夹杂物有效
申请号: | 200980142940.1 | 申请日: | 2009-10-27 |
公开(公告)号: | CN102203591A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 威廉姆·别亚;玛丽·库欧科;玛丽-诺艾尔·黑纳德;比阿特丽斯·佩尔蒂埃 | 申请(专利权)人: | 斯奈克玛 |
主分类号: | G01N23/22 | 分类号: | G01N23/22;G01N33/20;G06T7/00;H01J37/22;G01N23/225 |
代理公司: | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人: | 万学堂;周伟明 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 图像 分析 计算 合金 夹杂 | ||
1.一种通过图像分析来计算和分析在一合金中的夹杂物的方法,其特征在于,该方法包括:
a)制备所述合金的样本;
b)通过放大地观察所述样本的至少一个区域而确定夹杂物检测阈值;
c)基于在步骤b)中所限定的阈值检测所述样本的夹杂物,并计算所述夹杂物;
d)获取在步骤c)中检测到的各夹杂物的图像,并确定各夹杂物的尺寸;
e)通过对每个检测的夹杂物进行化学分析,确定每个所检测夹杂物的化学成分;和
f)通过在步骤d)中获取的图像形成所述样本的地图,所述地图显示出该夹杂物的空间分布,其中各所述检测到的夹杂物由图形元素表示,所述图形元素的尺寸与所述夹杂物的尺寸成比例,图形元素的颜色与所述夹杂物的化学成分相关联。
2.根据权利要求1所述的计算和分析夹杂物的方法,其特征在于,在步骤b)中,所述检测阈值包括:夹杂物的最小尺寸、夹杂物中至少一种化学元素的最小浓度。
3.根据权利要求1或2所述的计算和分析夹杂物的方法,其特征在于,在步骤f)之后,包括以下步骤:
g)使用在步骤f)中形成的所检测夹杂物的地图,基于至少一个预定标准分析所述样本。
4.根据权利要求3所述的计算和分析夹杂物的方法,其特征在于,每个标准选自以下中的至少一种:所述夹杂物的分布、各夹杂物的尺寸和单位面积夹杂物的数量。
5.根据权利要求1至4中任何一项所述的计算和分析夹杂物的方法,其特征在于,所述合金选自:碳钢、镍基合金、钴基合金和通过粉末冶金生产的合金。
6.一种用于计算和分析一合金中的夹杂物的系统,其特征在于,该系统包括:
显微镜;
第一工具,其适于控制所述显微镜,用于基于检测阈值检测所述合金样本中存在的夹杂物,并计算所述夹杂物;
化学分析设备,其适于获得来自各夹杂物的化学数据;
第二工具,其适于获取各夹杂物的图像,并控制所述化学分析设备,以通过所述化学数据确定所述夹杂物的化学成分;
第三工具,其适于形成所述样本的地图,所述地图显示出所述夹杂物的空间分布,其中各所述检测到的夹杂物由图形元素表示,所述图形元素的尺寸与所述夹杂物的尺寸成比例,所述图形元素的颜色与所述夹杂物的化学成分相关联;和
用于显示所述地图的装置。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述检测阈值包括:夹杂物的最小尺寸;夹杂物中至少一种化学元素的最小浓度。
8.根据权利要求6或7所述的系统,其特征在于,所述显微镜是扫描电子显微镜,所述化学分析设备是能量分散微分析系统。
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