[发明专利]用于对光伏元件中的缺陷进行定位和钝化的系统和方法

权利要求书

1.一种用于对光伏元件中的引起漏电流的缺陷进行定位的方法，包括以下步骤： 

(i) 照射光伏元件的具有至少最小尺寸的区域； 

(ii) 通过接触光伏元件的电极中的一个上的被照射区域内的至少一个特定测量位置处的被照射光伏元件的两个电极来测量至少一个光致电值；以及 

(iii) 基于所测量的至少一个光致电值和所述至少一个特定测量位置来确定光伏元件的缺陷的位置。

2.权利要求1的方法，其中，在步骤（ii）中，所述至少一个电值是通过光伏元件的电极中的一个上的至少一个测量接触测量的光致电值。

3.权利要求1或2的方法，其中，在步骤（ii）中，相对于所述至少一个测量接触移动光伏元件以便在不同的测量位置处测量多个光致电值。

4.权利要求1至3中的任一项的方法，其中，以高达15m/min的速度移动光伏元件，并至少每50μm确定光致电值。

5.权利要求1至4中的任一项的方法，其中，步骤（iii）还包括以下子步骤： 

(iiia) 基于所测量的至少一个光致电值和相应的至少一个特定测量位置来确定位置相关光致电值分布；以及 

(iiib) 确定所述位置相关光致电值分布的最小值或最大值，提供所确定的最小值或最大值的位置作为缺陷的位置。

6.权利要求5的方法，其中，通过确定第一测量光致电值和在第一测量光致电值前面的第二测量光致电值之间的差来计算所测量的光致电值的差分值。

7.权利要求6的方法，其中，相互间隔开的两个测量接触被用于测量光致电值，所测量的光致电值被与用于每个测量接触的特定测量位置相关地单独存储，基于多个测量的光致电值和用于每个测量接触的相应特定测量位置来单独地确定位置相关电压分布，并且基于所测量的光致电值的差分值和用于每个测量接触的相应特定测量位置来单独地确定每个位置相关电压分布的最小值或最大值。

8.权利要求7的方法，其中，通过确定第一测量光致电值和在第一测量光致电值前面的第二测量光致电值之间的差来针对每个测量接触单独地计算所测量的光致电值的差分值。

9.权利要求1至8中的任一项的方法，还包括以下步骤： 

(iv) 电气地钝化已被确定位置的缺陷。

10.权利要求9的方法，其中，步骤（iv）包括去除所确定的缺陷位置周围的区域中的电极中的至少一个。

11.权利要求9和10的方法，其中，电极中的一个是TCO层，并且其中，通过局部地通过化学蚀刻或通过激光蚀刻来去除TCO层来执行所确定的缺陷的钝化。

12.权利要求11的方法，通过激光蚀刻在每个所确定的缺陷周围画具有特定宽度的线，其中，沿着该线，去除TCO层，从而保证在钝化步骤之后，与已被确定位置的缺陷电接触的TCO层不具有至被用作电极的其余TCO层的电接触。

13.权利要求1至12中的任一项的方法，其中，所述光伏元件是卷到卷薄膜太阳能电池。

14. 一种用于对光伏元件中的引起漏电流的缺陷进行钝化的方法，包括以下步骤： 

(i) 照射光伏元件的具有至少最小尺寸的区域； 

(ii) 基于光伏元件的电极之间的至少一个光致电值和光伏元件的电极中的一个上的被照射区域内的相应测量位置来确定缺陷的位置；以及 

(iii) 通过蚀刻来去除所确定的缺陷位置处的区域中的电极中的至少一个。

15.权利要求14的方法，还包括以下步骤： 

(iia) 将光伏元件定位于所确定的位置处， 

其中，所述电极中的至少一个是TCO层，所述缺陷是旁路且步骤（iii）包括通过蚀刻来去除所确定的旁路位置处的区域中的TCO层，从而保证在去除TCO层之后旁路不具有到正面电极的电接触。