[发明专利]绝对编码器设置指示有效
申请号: | 200980143126.1 | 申请日: | 2009-10-27 |
公开(公告)号: | CN102197282A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 安德鲁·保罗·格里布尔;伊恩·罗伯特·戈登-印格拉姆 | 申请(专利权)人: | 瑞尼斯豪公司 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244;G01D5/249;G01D5/347 |
代理公司: | 北京金思港知识产权代理有限公司 11349 | 代理人: | 邵毓琴 |
地址: | 英国格*** | 国省代码: | 英国;GB |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 绝对 编码器 设置 指示 | ||
1.一种操作绝对编码器装置的方法,所述编码器装置包括标尺和读取头,所述标尺具有沿至少一个测量维度限定绝对位置信息的结构,所述读取头被构造成读取所述结构,所述方法包括:
获得限定绝对位置信息的至少一些结构的至少一个图像;
分析所述至少一个图像以便确定表示所述图像质量的至少一个参数;以及
至少部分基于所述至少一个参数提供表示所述标尺与所述读取头的相对设置的输出。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,确定所述至少一个参数只是基于所述至少一个图像。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,分析所述至少一个图像包括分析所述图像中至少一些结构的质量。
4.根据前面任何权利要求所述的方法,其中分析所述至少一个图像包括分析所述至少一个图像中至少一些结构的强度。
5.根据权利要求4所述的方法,其中分析所述至少一个图像包括分析所述至少一个图像中至少一些结构的幅度。
6.根据前面任何权利要求所述的方法,其中所述轨道包括第一类型结构和至少第二类型结构,所述第一类型结构的图像质量对于读取头与标尺的相对布置更敏感,并且确定所述至少一个参数包括分析所述第一类型结构。
7.根据权利要求6所述的方法,其中至少沿所述至少一个测量维度所述第一类型结构比所述第二类型结构更小。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其中分析所述至少一个图像包括将所述第一类型结构与所述第二类型结构比较。
9.根据前面任何权利要求所述的方法,其中分析所述至少一个图像包括对所述图像的至少一部分进行傅立叶变换。
10.根据权利要求9所述的方法,包括以与所述第一类型结构的空间频率相关的一个或多个频率执行图像的至少一部分的一个或多个傅立叶变换。
11.根据权利要求9或10所述的方法,其中表示所述图像质量的参数基于至少一个傅立叶变换的量级。
12.根据前面任何权利要求所述的方法,其中分析所述至少一个图像包括分析所述至少一个图像中至少一些结构的方位。
13.根据前面任何权利要求所述的方法,其中所述输出只是基于所述至少一个参数。
14.根据前面任何权利要求所述的方法,其中所述编码器装置是光学编码器装置。
15.根据前面任何权利要求所述的方法,其中所述标尺仅包括单个轨道。
16.根据前面任何权利要求所述的方法,进一步包括分析所述至少一个图像以确定沿所述至少一个测量维度所述读取头与所述标尺的相对位置。
17.根据前面任何权利要求所述的方法,所述读取头包括电路,所述电路被构造成确定所述至少一个参数。
18.根据前面任何权利要求所述的方法,所述读取头包括一输出装置,并且基于所述至少一个参数的所述输出是经由所述输出装置输出的。
19.根据权利要求18所述的方法,其中所述输出装置包括可视指示装置。
20.根据权利要求19所述的方法,其中所述输出装置包括发光二极管。
21.根据前面任何权利要求所述的方法,其中所述输出至少部分地基于确定所述图像质量是否满足一阙值质量。
22.根据权利要求21所述的方法,其中所述输出是表明所述图像质量的水平。
23.根据权利要求21或22所述的方法,其中所述阙值质量大于所需图像质量以便从图像获取可靠的位置信息。
24.一种绝对编码器装置,包括标尺和读取头,所述标尺具有沿至少一个测量维度限定绝对位置信息的结构,所述读取头被构造成读取所述结构,其中所述装置被构造成:
借助所述读取头获得至少一些结构的至少一个图像;
分析所述至少一个图像以确定表示所述图像质量的至少一个参数;以及
至少部分地基于所述至少一个参数提供表示所述标尺和所述读取头的相对设置的输出。
25.一种用于绝对编码器装置的读取头,包括:
用于获得至少一些结构的至少一个图像的至少一个传感器;
电路,其被构造成分析所述至少一个图像以确定表示所述图像质量的至少一个参数;以及
输出装置,其至少部分地基于所述至少一个参数来提供表示所述标尺和读取头的相对设置的输出。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞尼斯豪公司,未经瑞尼斯豪公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980143126.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件和制造半导体器件的方法
- 下一篇:中间托架