[发明专利]用于测量过滤器中的滞留物的系统及方法

权利要求书

1.一种用于确定含在形成谐振腔的金属容器内的过滤器的污染物材料负载的方法，其中所述过滤器具有第一介电常数且所述污染物材料具有不同于所述第一介电常数的第二介电常数，所述方法包括：

在所述腔中建立微波能量以包含多种腔谐振模式；

监测腔微波响应在所述多种腔谐振模式下的改变；及

基于所述腔微波响应在所述多种腔谐振模式中的每一者下的所述改变而确定材料负载。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述材料负载包括所述材料在所述过滤器内的空间分布。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述腔微波响应的所述改变包括所述多种腔谐振模式中的一者的Q的改变。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述腔微波响应的所述改变包括所述多种腔谐振模式中的一者的振幅的改变。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述腔微波响应的所述改变包括所述多种腔谐振模式中的一者的频率的改变。

6.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

确定所述过滤器的与每一谐振模式相关联的区域；

将所述多种谐振模式的改变彼此进行比较；及

基于所述改变的所述比较而确定材料积累的区域。

7.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括基于所述材料负载而起始过滤器再生。

8.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括确定所述过滤器中的烟灰的数量。

9.根据权利要求1所述的方法，其中在反射模式中使用一个天线以将微波能量发射到所述腔并从所述腔接收微波能量。

10.根据权利要求1所述的方法，其中在发射模式中使用两个天线，其中一个天线将微波能量发射到所述腔且另一天线从所述腔接收微波能量。

11.根据权利要求10所述的方法，其中在反射模式中还使用所述两个天线中的每一者，以便基于所述发射天线、所述接收天线及所使用的所述模式而形成耦合矩阵。

12.一种用于确定过滤器的污染物材料负载的系统，其中所述污染物材料具有不同于所述过滤器的第一介电常数的介电常数，所述系统包括：

所述过滤器，其适于从流中移除污染物材料；

金属容器，其形成谐振腔，装纳所述过滤器；

信号产生器，其输出信号，所述信号具有频率范围以便涵盖所述腔的多种谐振模式；

至少一个天线，其用以将所述信号从所述频率产生器发射到所述腔中；

至少一个天线，其用以从所述腔接收所述所发射的信号；及

控制器，其经配置以将所述所接收的信号的参数与参考进行比较并基于所述比较而确定所述材料负载。

13.根据权利要求12所述的系统，其中所述参考包括先前所接收的信号。

14.根据权利要求12所述的系统，其中所述参考包括所存储的值。

15.根据权利要求12所述的系统，其中所述参数选自由振幅、频率及质量因子组成的群组。