[发明专利]受控的机架不平衡有效
申请号: | 200980143818.6 | 申请日: | 2009-10-29 |
公开(公告)号: | CN102202577A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | R·B·夏普莱斯 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;F16F15/32;G01M1/36 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 受控 机架 不平衡 | ||
1.一种成像系统,包括:
静止框架(104);
能绕枢轴转动的框架(106),其能绕枢轴转动地附接到所述静止框架(104)并被配置成关于横轴(108)绕枢轴转动;
旋转框架(110),其由所述能绕枢轴转动的框架(106)旋转地支撑并被配置成关于纵轴(114)绕检查区域(112)旋转;
旋转框架平衡器(118),其被配置成有选择地引入旋转框架质量不平衡;
辐射源(116),其固定到所述旋转框架(110)并从焦斑发射辐射,其中,所述辐射贯穿所述检查区域(112);以及
探测器阵列(128),其探测贯穿所述检查区域(112)的辐射并生成指示所述辐射的信号。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述不平衡导致所述能绕枢轴转动的框架(106)在所述旋转框架(110)绕所述纵轴(114)旋转的同时关于所述横轴(108)来回绕枢轴转动。
3.根据权利要求2所述的系统,其中,绕枢轴转动的旋转框架(110)沿所述纵轴(114)来回平移所述焦斑。
4.根据权利要求2所述的系统,其中,绕枢轴转动的旋转框架(110)沿预期的扫描轨线移动所述焦斑。
5.根据权利要求4所述的系统,其中,所述扫描轨线为鞍形轨线。
6.根据权利要求1-5中的任一项所述的系统,其中,所述旋转框架平衡器(118)包括被配置成沿所述纵轴(114)平移的能移动的质量块(206)。
7.根据权利要求6所述的系统,其中,所述旋转框架平衡器(118)还包括:
轴承(202),其固定到所述旋转框架(110);
电动机(204),其使所述轴承(202)致动;以及
控制器(122),其控制所述电动机(204),其中,所述能移动的质量块(206)固定到所述轴承(202),并且所述控制器(122)提供使所述电动机(204)致动以移动所述轴承(202)的控制信号,从而移动所述能移动的质量块(206)。
8.根据权利要求7所述的系统,还包括:
对抗质量块(124),其位于所述旋转框架(110)上,在所述旋转框架平衡器(118)对面,所述检查区域(112)的对侧。
9.根据权利要求1-8中的任一项所述的系统,其中,所述旋转框架平衡器(118)从所述辐射源(116)角偏移角度α(702)。
10.根据权利要求9所述的系统,其中,所述角度α(702)至少确定所述焦斑沿z轴(114)的最大位移。
11.根据权利要求9所述的系统,其中,所述角度α(702)是成像规程的函数。
12.根据权利要求1-10中的任一项所述的系统,还包括阻尼器(126),其对所述能绕枢轴转动的框架(106)的绕枢轴的转动进行阻尼。
13.根据权利要求1-12中的任一项所述的系统,其中,所述旋转框架平衡器(118)在所述旋转框架(110)旋转的同时改变所述质量不平衡。
14.一种方法,包括有选择地生成旋转框架(110)质量不平衡,其中,所述旋转框架(110)是成像系统(100)的一部分并且支撑所述成像系统(100)的辐射源(116)。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述质量不平衡限定所述辐射源(116)的焦斑的焦斑轨线。
16.根据权利要求14到15中的任一项所述的方法,其中,生成所述旋转框架(110)质量不平衡包括沿纵轴(114)有选择地移动能移动地固定到所述旋转框架(110)的质量块(206)。
17.根据权利要求14到16中的任一项所述的方法,其中,所述不平衡导致所述旋转框架(110)关于枢轴(108)转动。
18.根据权利要求17所述的方法,其中,绕枢轴转动的所述旋转框架(110)周期性地来回平移所述焦斑。
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