[发明专利]锥形射束Z轴覆盖

权利要求书

1.一种成像系统，包括：

辐射源(110)，其包括阳极(202)，所述辐射源关于纵轴(108)绕检查区域(106)旋转并从所述阳极(202)上的焦斑(206)发射辐射；

源准直器(112)，所述源准直器准直所发射的辐射以产生贯穿所述检查区域的大致为锥形的辐射束，其中，所述大致为锥形的辐射束具有沿所述纵轴的扩展的锥角，所述扩展的锥角大于由所述阳极(202)的阳极角所确定的有效最大锥角；

探测器阵列(116)，所述探测器阵列探测贯穿所述检查区域的辐射并生成指示所述辐射的信号；以及

重建器(118)，所述重建器重建所述信号以生成指示所述检查区域的体积图像数据。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述扩展的锥角在所述阳极(202)的方向上沿所述纵轴扩展。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述扩展的锥角在沿所述纵轴的两个方向上对称地扩展。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述扩展的锥角在沿所述纵轴的两个方向上不对称地扩展。

5.根据权利要求1到4中的任一项所述的系统，其中，所述辐射源(110)的功率水平是与大约等于所述足跟效应所确定的所述有效最大锥角的锥角所使用的相同的功率水平，所述有效最大锥角是由所述阳极(202)的阳极角确定的。

6.根据权利要求1到5中的任一项所述的系统，其中，所述辐射源(110)在飞越式扫描期间沿所述纵轴(108)物理地平移。

7.根据权利要求1到6中的任一项所述的系统，还包括数据校正器(120)，所述数据校正器针对与所述大致为锥形的辐射束的足跟一侧对应的射束硬化校正所述信号。

8.根据权利要求7所述的系统，其中，所述数据校正器(120)还针对与所述大致为锥形的辐射束的足跟一侧对应的增大的衰减校正所述信号。

9.根据权利要求1到8中的任一项所述的系统，其中，所述有效最大锥角大约为八厘米，而所述扩展的锥角大约为十厘米到大约十二厘米。

10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述扩展的锥角沿所述阳极的方向扩展大约一厘米，而沿所述阴极的方向扩展大约一厘米到大约三厘米。

11.根据权利要求1到10中的任一项所述的系统，其中，所述系统执行螺旋扫描，并且至少两个体素具有相同的标称切片宽度灵敏度。

12.根据权利要求1到11中的任一项所述的系统，其中，所述阳极角大约为八度。

13.一种方法，包括：

准直从成像系统(100)的辐射源(110)的阳极(202)上的焦斑(206)发射的辐射束以产生大致为锥形的辐射束，所述大致为锥形的辐射束具有沿纵轴的扩展的锥角，所述扩展的锥角大于由所述阳极(202)的阳极角所确定的有效最大锥角；以及

采集指示贯穿检查区域(106)并照射探测器阵列(116)的所述辐射的投射数据。

14.根据权利要求13所述的方法，还包括在沿所述纵轴的两个方向上对称地扩展所述锥角。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述锥角沿每个方向扩展大约一度。

16.根据权利要求13所述的方法，还包括在沿所述纵轴的两个方向上不对称地扩展所述锥角。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述锥角沿与所述足跟对应的方向扩展大约一度，而沿相反的方向扩展大约一度到三度。

18.根据权利要求13到17中的任一项所述的方法，还包括以与准直所述辐射以产生具有有效最大锥角的所述大致为锥形的辐射束时所使用的相同的功率水平为辐射源供电。

19.根据权利要求13到18中的任一项所述的方法，还包括在飞越式扫描期间沿所述纵轴(108)物理地平移所述辐射源(110)。

20.根据权利要求13到19中的任一项所述的方法，还包括针对与所述足跟效应对应的射束硬化校正所述投射数据。

21.根据权利要求13到20中的任一项所述的方法，还包括针对与所述足跟效应对应的衰减校正所述投射数据。

22.一种利用计算机可读指令编码的计算机可读介质，当计算机处理器执行所述计算机可读指令时，令所述处理器：

提供控制信号以定位准直器(112)的准直器叶片(114)，以准直从成像系统(100)的辐射源(110)的阳极(202)上的焦斑(206)发射的辐射束从而有选择地产生大致为锥形的辐射束，所述大致为锥形的辐射束任选地具有沿纵轴对称或不对称扩展的锥角，所述扩展的锥角大于由所述阳极(202)的阳极角所确定的有效最大锥角。