[发明专利]姿势检测装置的校正参数生成方法、用于生成姿势检测装置的校正参数的装置以及姿势检测装置有效
申请号: | 200980145327.5 | 申请日: | 2009-11-12 |
公开(公告)号: | CN102216790A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 宇田川裕文;小林祥宏 | 申请(专利权)人: | 爱普生拓优科梦株式会社 |
主分类号: | G01P21/00 | 分类号: | G01P21/00;G01B21/22;G01C19/00;G06F3/033 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 姿势 检测 装置 校正 参数 生成 方法 用于 以及 | ||
1.一种姿势检测装置的校正参数生成方法,该姿势检测装置包含对角速度或加速度进行检测的第1传感器、第2传感器和第3传感器,所述第1传感器、第2传感器和第3传感器被安装成检测轴分别与相互垂直的第1轴、第2轴和第3轴大致平行,该校正参数生成方法生成校正式的校正参数,该校正式将根据所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的检测信号检测物体姿势的所述姿势检测装置的检测值,校正成以所述第1轴、所述第2轴和所述第3轴为坐标轴的正交坐标系中的检测值,其特征在于,该校正参数生成方法包含以下步骤:
将旋转板设置成使得上表面处于水平;
在具有相互垂直的第1面、第2面、第3面的长方体形状的夹具的所述第1面上,以所述第1轴与所述第2面垂直、所述第2轴与所述第3面垂直、所述第3轴与所述第1面垂直的方式,固定所述姿势检测装置;
第1检测值取得步骤,将所述夹具的与所述第2面相对的面固定在所述旋转板的所述上表面,使所述旋转板静止或以规定角速度旋转,取得所述姿势检测装置的检测值;
第2检测值取得步骤,将所述夹具的与所述第3面相对的面固定在所述旋转板的所述上表面,使所述旋转板静止或以规定角速度旋转,取得所述姿势检测装置的检测值;
第3检测值取得步骤,将所述夹具的与所述第1面相对的面固定在所述旋转板的所述上表面,使所述旋转板静止或以规定角速度旋转,取得所述姿势检测装置的检测值;以及
校正参数生成步骤,根据所取得的检测值生成所述校正参数。
2.根据权利要求1所述的姿势检测装置的校正参数生成方法,其特征在于,
所述校正式包含用于将所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的各检测值校正成所述正交坐标系中的各检测值的第1校正矩阵、第2校正矩阵和第3校正矩阵,作为所述校正参数,并且,所述校正式表示为通过下述方式得到的3个矩阵之和,该方式为:将所述第1校正矩阵、所述第2校正矩阵和所述第3校正矩阵各自与分别包含对所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的各检测值进行A/D转换后的数字值作为要素的各个矩阵相乘,由此获得所述3个矩阵。
3.根据权利要求2所述的姿势检测装置的校正参数生成方法,其特征在于,
所述第1校正矩阵、所述第2校正矩阵和所述第3校正矩阵是将所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的各检测轴分别转换成所述第1轴、所述第2轴和所述第3轴的旋转矩阵的逆矩阵。
4.根据权利要求2或3所述的姿势检测装置的校正参数生成方法,其特征在于,
所述校正参数生成步骤包含以下步骤:
根据在所述第1检测值取得步骤中取得的所述检测值,计算所述第2传感器和所述第3传感器的绕所述第1轴的各安装角误差;
根据在所述第2检测值取得步骤中取得的所述检测值,计算所述第1传感器和所述第3传感器的绕所述第2轴的各安装角误差;
根据在所述第3检测值取得步骤中取得的所述检测值,计算所述第1传感器和所述第2传感器的绕所述第3轴的各安装角误差;
根据所述第1传感器的绕所述第2轴的所述安装角误差和绕所述第3轴的所述安装角误差,生成所述第1校正矩阵;
根据所述第2传感器的绕所述第1轴的所述安装角误差和绕所述第3轴的所述安装角误差,生成所述第2校正矩阵;以及
根据所述第3传感器的绕所述第1轴的所述安装角误差和绕所述第2轴的所述安装角误差,生成所述第3校正矩阵。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱普生拓优科梦株式会社,未经爱普生拓优科梦株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980145327.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:破骨细胞分化抑制用肽及其用途
- 下一篇:通用甲基化分析方法