[发明专利]检波器及检波方法无效

专利信息
申请号: 200980145496.9 申请日: 2009-11-16
公开(公告)号: CN102216989A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 富川靖彦;安河内真弓;和泉光彦;平木刚 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10;G11B7/005
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检波器 检波 方法
【说明书】:

技术领域

本发明所公开的技术涉及对输入信号的包络线进行检测的检波器。

背景技术

在光盘再现装置中,进行通过光拾取器从光盘读出的RF(Radio Frequency:射频)信号的包络线检测,生成跟随RF信号的极大值的峰值信号和跟随RF信号的极小值的谷值信号。例如在专利文献1中记载有一种利用RF信号是疑似随机信号而削减了电路规模的信号振幅测量电路。在该电路中,将采用变换速度是低速的AD(Analog-to-Digital:模-数)变换器经多次AD变换而得到的值中的一部分视为峰值电平或谷值电平。

专利文献1:JP特开2001-167440号公报

由于RF信号是模拟信号,所以当采用数字电路来构成进行RF信号的包络线检测的检波器时,需要采用进行模拟信号与数字信号之间的变换的变换器。当变换器进行变换时,由于需要某种程度的变换时间,因此有时会跟随不上输入了作为包络线而被检测出的峰值信号或谷值信号的RF信号的变化。

发明内容

本发明的目的在于,提高针对从输入信号检测出的包络线的输入信号的跟随性。

基于本发明的例示的实施方式的检波器,其根据包括目标信号的输入信号来求出输出信号并进行输出,具有:比较器,其将所述输入信号与所述输出信号进行比较,并输出所得到的比较结果;和包络线生成器,其根据所述比较结果,对第一值以及与所述第一值符号相反的第二值赋予权重,并对所述被赋予权重的第一值以及所述被赋予权重的第二值进行积分,且输出积分值作为所述输出信号,所述包络线生成器具有第一增益生成器,该第一增益生成器根据所述输入信号的振幅来输出所述第一值。

由此,根据输入信号的振幅值,对第一值或第二值进行积分。因此,能够使针对输入信号的积分值的跟随性恰当地变化,使检波器能够进行稳定的动作。

本发明例示的实施方式的检波方法,根据包括目标信号的信号中来求出输出信号,将所述输入信号与所述输出信号进行比较,根据所得到的比较结果,对第一值以及与所述第一值符号相反的第二值赋予权重,并对所述被赋予权重的第一值以及所述被赋予权重的第二值进行积分,且输出积分值作为所述输出信号,从所述输入信号中检测出所述目标信号的频率分量以外的频率分量即无用频率分量,当检测出所述无用频率分量时,抑制所述积分值的绝对值的增加。

(发明效果)

根据本发明例示的实施方式,能够根据输入信号改变从输入信号检测出的包络线(峰值信号或谷值信号)的针对输入信号的跟随性,因此,能够根据状况进行恰当的包络线检测。

附图说明

图1是表示基于本发明的实施方式的包络线检波电路的结构的方框图。

图2是表示RF信号、峰值信号及谷值信号的示例的图表。

图3是表示在RF信号稳定期间的RF信号、峰值信号及比较器输出的示例的图表。

图4是表示在RF信号缺欠期间的RF信号、峰值信号及比较器输出的示例的图表。

图5是表示在RF信号骤然衰落期间的RF信号、峰值信号及比较器输出的示例的图表。

图6是表示基于本发明的第一变形例的包络线检波电路的峰值检波的部分的结构的方框图。

图7是图6的积分控制器具有的检测电路的电路图。

图8是表示基于本发明的第二变形例的峰值检波电路的结构的方框图。

具体实施方式

以下,针对本发明例示的实施方式,参照附图进行说明。在图中用后两位相同的参照号码所示出的结构要素是相互对应的,且是相同或类似的结构要素。图中的功能方框间的实线表示电连接。

本发明中的各功能块,典型上能由硬件来实现。例如,各功能块作为IC(集成电路)的一部分而能形成于半导体基板上。其中IC包括LSI(Large-Scale Integrated circuit:大规模集成电路)、ASIC(Application-Specific Integrated Circuit:专用集成电路)、门阵列、FPGA(Field Programmable Gate Array:现场可编程门阵列)等。取而代之,各功能块的一部分或全部也能由软件来实现。例如,这样的功能块能够通过在处理器上执行的程序来实现。换言之,本说明书中所说明的各功能块,既可以由硬件来实现,也可以由软件来实现,且能够通过硬件与软件的任意组合来实现。

(实施方式)

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