[发明专利]成形片材的缺陷检查装置无效

专利信息
申请号: 200980146403.4 申请日: 2009-11-17
公开(公告)号: CN102224412A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 广濑修 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 毛利群;蒋骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 成形 缺陷 检查 装置
【权利要求书】:

1. 一种缺陷检查装置,对成形片材的缺陷进行检测,其特征在于:

包含摄像单元、线状光源、移动单元以及线缺陷检测单元;

所述摄像单元对所述成形片材的二维图像进行多次拍摄而生成多个二维图像数据;

所述线状光源对所述成形片材进行照明,以使该线状光源的像投影至所述成形片材中的被拍摄的部分区域上;

所述移动单元使所述成形片材以及所述线状光源中的至少一个在与所述线状光源的长度方向交叉且与所述成形片材的厚度方向正交的方向上移动,以使所述成形片材中的投影有所述线状光源的像的位置发生变化;

所述线缺陷检测单元根据由所述摄像单元所生成的多个二维图像数据,对线缺陷进行检测;其中,

所述线缺陷检测单元是利用如下算法对线缺陷进行检测的单元,

(a)利用函数曲线对所述二维图像数据中的线状光源的像的边缘进行拟合,并将线状光源的像的边缘与函数曲线的距离达到第一阈值以上的部位检测为线缺陷的线缺陷检测算法,或者

(b)对所述二维图像数据中的线状光源的像的边缘求出各像素的附近区域的曲率,并将该曲率达到第二阈值以上的部位检测为线缺陷的线缺陷检测算法。

2. 根据权利要求1所述的缺陷检查装置,其特征在于:还包含根据由所述摄像单元所生成的多个二维图像数据来对点缺陷进行检测的点缺陷检测单元。

3. 根据权利要求2所述的缺陷检查装置,其特征在于:

所述点缺陷检测单元是利用如下算法对点缺陷进行检测的单元,

(a)将所述二维图像数据中的依赖于沿着一直线上的位置的亮度的变化表示为亮度分布,设想一个在亮度分布的标绘点群中为使标绘点间的移动时间成为固定时间而进行移动的质点,根据位于目标标绘点的正前方的两个标绘点之间的所述质点的速度向量与位于所述目标标绘点的正前方的三个标绘点之间的所述质点的加速度向量来预测所述目标标绘点的亮度值,并将所预测的亮度值与实际的亮度值之差达到第三阈值以上的部位检测为点缺陷的点缺陷检测算法,或者

(b)对所述二维图像数据进行平滑化,作为差分图像数据求出经平滑化的二维图像数据与原本的二维图像数据之间的差分,将差分图像数据中的亮度值达到第四阈值以上的部位以及亮度值达到小于第四阈值的第五阈值以下的部位检测为点缺陷的点缺陷检测算法。

4. 一种缺陷检查装置,对成形片材的缺陷进行检测,其特征在于:

包含摄像单元、线状光源、移动单元以及点缺陷检测单元;

所述摄像单元对所述成形片材的二维图像进行多次拍摄而生成多个二维图像数据;

所述线状光源对所述成形片材进行照明,以使该线状光源的像投影至所述成形片材中的被拍摄的部分区域上;

所述移动单元使所述成形片材以及所述线状光源中的至少一个在与所述线状光源的长度方向交叉且与所述成形片材的厚度方向正交的方向上移动,以使所述成形片材中的投影有所述线状光源的像的位置发生变化;

所述点缺陷检测单元根据由所述摄像单元所生成的多个二维图像数据,对点缺陷进行检测;其中,

所述点缺陷检测单元是利用如下算法对线缺陷进行检测的单元,

(a)将所述二维图像数据中的依赖于沿着一直线上的位置的亮度的变化表示为亮度分布,设想一个在亮度分布的标绘点群中为使标绘点间的移动时间成为固定时间而进行移动的质点,根据位于目标标绘点的正前方的两个标绘点之间的所述质点的速度向量与位于所述目标标绘点的正前方的三个标绘点之间的所述质点的加速度向量来预测所述目标标绘点的亮度值,并将所预测的亮度值与实际的亮度值之差达到第三阈值以上的部位检测为点缺陷的点缺陷检测算法,或者

(b)对所述二维图像数据进行平滑化,作为差分图像数据求出经平滑化的二维图像数据与原本的二维图像数据之间的差分,将差分图像数据中的亮度值达到第四阈值以上的部位以及亮度值达到小于第四阈值的第五阈值以下的部位检测为点缺陷的点缺陷检测算法。

5. 根据权利要求4所述的缺陷检查装置,其特征在于:还包括根据由所述摄像单元所生成的多个二维图像数据来对线缺陷进行检测的线缺陷检测单元。

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