[发明专利]光谱成像有效
申请号: | 200980146746.0 | 申请日: | 2009-11-03 |
公开(公告)号: | CN102224435A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | E·勒斯尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 成像 | ||
1.一种光谱处理器(118),其处理指示由成像系统(100)探测到的多色辐射的探测器信号,所述光谱处理器(118)包括:
第一处理通道(120),其生成从所述探测器信号导出的第一光谱信号,其中,所述第一光谱信号包括关于所述探测器信号的第一光谱信息;和
第二处理通道(120),其生成从相同的所述探测器信号导出的第二光谱信号,其中,所述第二光谱信号包括关于所述探测器信号的第二光谱信息,其中,所述第一和第二光谱信号用于对所述探测器信号进行光谱解析。
2.如权利要求1所述的光谱处理器(118),其中,所述第一光谱信号与在所述探测器信号中编码的X射线积分通量光谱的第一动量对应。
3.如权利要求1至2中的任一项所述的光谱处理器(118),其中,所述第二光谱信号与在所述探测器信号中编码的所述X射线积分通量光谱的第二动量对应。
4.如权利要求1至3中的任一项所述的光谱处理器(118),其中,所述第二光谱信号从所述信号的AC分量导出。
5.如权利要求1至3中的任一项所述的光谱处理器(118),还包括重建器(122),所述重建器重建所述第一和第二光谱信号的每个并生成所述第一光谱信号的第一体积图像数据和所述第二光谱信号的第二体积图像数据。
6.如权利要求5所述的光谱处理器(118),还包括图像生成器(124),所述图像生成器基于所述第一体积图像数据生成第一图像并基于所述第二体积图像数据生成第二图像。
7.如权利要求6所述的光谱处理器(118),其中,基于所述第一和第二图像在图像域中对所述信号进行光谱解析。
8.如权利要求1至3中的任一项所述的光谱处理器(118),还包括重建器(122),所述重建器采用在投影域中对所述信号进行光谱解析的光谱算法。
9.一种方法,包括:
探测横贯成像系统的检查区域的多色辐射;
生成指示所探测到的辐射的能量分布的信号;
根据所述探测器信号确定关于所述辐射的所述能量分布的第一光谱信息;
根据所述探测器信号确定关于所述辐射的所述能量分布的第二光谱信息,其中,所述第一和第二信息不同;以及
基于所述第一和第二光谱信息对所述探测器信号进行光谱解析。
10.如权利要求9所述的方法,其中,所述第一光谱信号与在所述探测器信号中编码的所述辐射的均值能量值对应。
11.如权利要求9至10中的任一项所述的方法,其中,所述第二光谱信号与在所述探测器信号中编码的所述辐射的均方能量值对应。
12.一种成像系统(100),包括:
辐射源(106),其发射横贯检查区域(108)的多色辐射;
探测器阵列(114),其探测所述辐射并生成指示所述辐射的信号;以及
光谱处理器(118),其处理所述探测器信号,所述光谱处理器(118)包括:
第一处理通道(120),其生成从所述探测器信号导出的第一光谱信号,其中,所述第一光谱信号包括关于所述探测器信号的第一光谱信息;和
第二处理通道(120),其生成从所述探测器信号导出的第二光谱信号,其中,所述第二光谱信号包括关于所述探测器信号的第二光谱信息,
其中,所述第一和第二光谱信号用于对所述探测器信号进行光谱解析。
13.如权利要求12所述的成像系统,其中,所述第一处理通道(120)包括在某个积分周期上对所述探测器信号进行积分的积分器(202)。
14.如权利要求13所述的成像系统,其中,所积分出的信号代表所述探测器信号的DC分量。
15.如权利要求12至14中的任一项所述的成像系统,其中,所述第二处理通道(120)包括:
带通滤波器(204),其滤除所述探测器信号的低频和高频分量;
求平方电子设备(204),其对经滤波的探测器信号进行数学求平方;以及
积分器(206),其对经求平方并滤波的探测器信号进行积分。
16.如权利要求15所述的成像系统,其中,所述经求平方并滤波的信号包括所述信号的AC分量。
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