[发明专利]使至少一个Hg-低压放电灯运行的运行仪器和方法无效
申请号: | 200980148682.8 | 申请日: | 2009-12-01 |
公开(公告)号: | CN102239749A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 阿明·康拉德;罗格·亨特;马丁·萨考;拉尔夫·霍克 | 申请(专利权)人: | 欧司朗有限公司 |
主分类号: | H05B41/36 | 分类号: | H05B41/36 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴孟秋;李慧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 至少 一个 hg 低压 电灯 运行 仪器 方法 | ||
1.一种用于使至少一个包括第一电极线圈(14a)和第二电极线圈(14b)的Hg-低压放电灯(12)运行的运行仪器,具有:
-用于连接电源的输入端;
-用于连接至少一个Hg-低压放电灯(12)的输出端;
-用于提供参量的装置(24),所述参量与所述Hg-低压放电灯(12)中的Hg-蒸汽压力相关;
-微控制器(38),所述微控制器与用来提供与所述Hg-蒸汽压力相关的所述参量的所述装置(24)连接并且与所述运行仪器的所述输出端连接,并设计用于在所述输出端处提供用于使至少一个Hg-低压放电灯(12)运行的信号,其中所述信号通过至少一个取决于与所述Hg-蒸汽压力相关的所述参量的灯运行参数来表征,
其特征在于,
用于提供所述与至少一个Hg-低压放电灯(12)中的所述Hg-蒸汽压力相关的参量的所述装置(24)包括至少一个用于检测至少能预定的光谱范围中的发射光谱的装置(18a,20,26,28,30),其中所述用于检测发射光谱的装置(18a,20,26,28,30)包括有至少一个布置在至少一个所述Hg-低压放电灯(12)的光路中的采光装置(18a)。
2.根据权利要求1所述的运行仪器,其特征在于,至少一个灯运行参数涉及到至少一个Hg-低压放电灯(12)的至少一个电极线圈(14a;14b)的加热、特别是预加热和/或持久加热和/或附加加热。
3.根据权利要求1或2所述的运行仪器,其特征在于,所述微控制器(38)设计用于确定能预定的Hg-线、和/或Ar-线和/或发光材料发射线和/或惰性气体线、特别是Kr-和/或Xe-线的发射强度,并且进行评估,至少用于确定至少一个Hg-低压放电灯(12)的所述Hg-蒸汽压力。
4.根据权利要求3所述的运行仪器,其特征在于,所述微控制器(38)设计用于确定所述Hg-线在405nm和/或436nm和/或546nm和/或579nm时的发射强度的关系,和/或在764nm时确定Ar-线,并且进行评估,至少用于确定至少一个Hg-低压放电灯(12)的所述Hg-蒸汽压力。
5.根据权利要求4所述的运行仪器,其特征在于,所述微处理器设计用于确定Hg-线在436nm和Hg-线在405nm时的发射强度的关系,并且进行评估,至少用于确定至少一个Hg-低压放电灯的所述Hg-蒸汽压力。
6.根据上述权利要求中任一项所述的运行仪器,其特征在于,所述用于检测发射光谱的装置包括光谱计(24)。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的运行仪器,其特征在于,所述用于检测发射光谱的装置(18a,20,26,28,30)包括至少一个传感器,所述传感器根据至少一个能预定的光谱范围来调整。
8.根据上述权利要求中任一项所述的运行仪器,其特征在于,所述用于检测发射光谱的装置(24)与至少一个Hg-低压放电灯(12)连接。
9.根据上述权利要求中任一项所述的运行仪器,其特征在于,所述微控制器(38)设计用于,在所述运行仪器的所述输出端处提供引起寿命结束断开的信号。
10.根据上述权利要求中任一项所述的运行仪器,其特征在于,所述微控制器(38)此外设计用于取决于至少一个Hg-低压放电灯(12)的所述Hg-蒸汽压力控制至少一个对于至少一个Hg-低压放电灯(12)的热量管理来说至关重要的构件、特别是帕尔贴元件、通风装置、加热装置、冷却装置。
11.根据上述权利要求中任一项所述的运行仪器,其特征在于,用于提供与至少一个Hg-低压放电灯(12)中的所述Hg-蒸汽压力相关的参量的所述装置,设计用于提供与多个Hg-低压放电灯(12)的所述Hg-蒸汽压力相关的参量,其中对于每个Hg-低压放电灯(12)将分别布置在各自Hg-低压放电灯(12)的光路中的光导体(18a;18b,18c;18d)设计为光接收装置,其中每个光导体,特别通过多路转换器(20)与所述用于检测发射光谱的装置连接。
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