[发明专利]太阳能电池检测装置、检测方法、计算机程序及检测系统无效
申请号: | 200980148957.8 | 申请日: | 2009-10-02 |
公开(公告)号: | CN102239567A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 下斗米光博;石川诚;笹部耕司 | 申请(专利权)人: | 日清纺控股株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 樊建中 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 检测 装置 方法 计算机 程序 系统 | ||
技术领域
本发明关于一种太阳能电池检测装置、太阳能电池检测方法、计算机程序及太阳能电池检测系统,特别关于特定太阳能电池单元的缺陷。
背景技术
将太阳光的能量转换为电力的太阳能电池,一般都以硅等半导体来构成。这种太阳能电池经由通电而发光。特许文献1公开了:根据通电时太阳能电池单元全体的发光量,来判断该太阳能电池单元优劣的技术。
然而,在太阳能电池单元中,通电时发光较弱的暗区域(dark area)也可能以缺陷的方式存在。这种暗区域具有从亮度低到比周围亮度稍低的各种亮度。
利用传统的二值化处理来检测这种暗区域时,也会检测出太阳能电池单元的晶界等,从而难以判别应作为缺陷被检测出的暗区域。
专利文献1:WO/2006/059615
发明内容
鉴于上述问题,本发明的目的是:提供一种可判别应作为缺陷被检测出的暗区域的太阳能电池检测装置、太阳能电池检测方法、计算机程序及太阳能电池检测系统。
为了解决上述问题,本发明的太阳能电池检测装置,包含:图像获取部,获取通电状态下一个或多个太阳能电池单元的单元图像;裂纹位置信息生成部,特定在所述单元图像中亮度比周围低的线状画素群、并生成所述太阳能电池单元中裂纹的位置信息;暗区域位置信息生成部,特定在所述单元图像中由亮度在一定值以下的画素聚集成的面积在一定值以上的画素群、并生成所述太阳能电池单元中暗区域的位置信息;以及暗区域判断部,根据暗区域及裂纹的位置关系、判断所述暗区域是否由所述裂纹造成的。
本发明的太阳能电池检测方法,包含:获取通电状态下一个或多个太阳能电池单元的单元图像的工序;特定在所述单元图像中亮度比周围低的线状画素群、并生成所述太阳能电池单元中裂纹的位置信息的工序;特定在所述单元图像中由亮度在一定值以下的画素聚集成的面积在一定值以上的画素群、并生成所述太阳能电池单元中暗区域的位置信息的工序;以及根据暗区域及裂纹的位置关系、判断所述暗区域是否由所述裂纹造成的工序。
本发明的计算机程序,使计算机执行:图像获取步骤,获取通电状态下一个或多个太阳能电池单元的单元图像;裂纹位置信息生成步骤,特定在所述单元图像中亮度比周围低的线状画素群、并生成所述太阳能电池单元中裂纹的位置信息;暗区域位置信息生成步骤,特定在所述单元图像中由亮度在一定值以下的画素聚集成的面积在一定值以上的画素群、并生成所述太阳能电池单元中暗区域的位置信息;以及暗区域判断步骤,根据暗区域及裂纹的位置关系、判断所述暗区域是否由所述裂纹造成的。计算机例如可以是个人计算机等。程序可储存在CD-ROM等计算机可读取的信息存储媒体中。
本发明的太阳能电池检测系统,包含:摄影部,对通电状态下一个或多个太阳能电池单元进行摄影、并生成所述太阳能电池单元的单元图像;图像获取部,获取所述单元图像;裂纹位置信息生成部,特定在所述单元图像中亮度比周围低的线状画素群、并生成所述太阳能电池单元中裂纹的位置信息;暗区域位置信息生成部,特定在所述单元图像中由亮度在一定值以下的画素聚集成的面积在一定值以上的画素群、并生成所述太阳能电池单元中暗区域的位置信息;以及暗区域判断部,根据暗区域及裂纹的位置关系、判断所述暗区域是否由所述裂纹造成的。
本发明的发明人发现应作为缺陷被检测出的暗区域是由裂纹造成的。因此,通过判定暗区域与裂纹位置关系,可提高由裂纹造成的暗区域的检测精度。
作为本发明的一种实施方式,所述裂纹位置信息生成部特定所述单元图像中亮度变化的边界部分、并生成所述太阳能电池单元中裂纹的位置信息。所述边界部分,可以通过一次微分滤镜或二次微分滤镜来特定。从而,可容易地特定出暗区域边缘附近的裂纹。
作为本发明的一种实施方式,所述暗区域判断部根据沿所述暗区域外缘的所述裂纹长度进行所述判断。从而,可提高检出由裂纹所造成的暗区域的检测精度。
作为本发明的一种实施方式,所述暗区域判断部根据位于所述暗区域中的所述裂纹长度进行所述判断。从而,可更加提高检出由裂纹所造成的暗区域的检测精度。
在以上实施方式中,所述暗区域判断部也根据所述暗区域的外缘长度与所述裂纹长度的比值进行所述判断。
作为本发明的一种实施方式,所述太阳能电池检测装置,还包含:品质判定部,根据因所述裂纹造成的暗区域数量、判断所述太阳能电池单元的品质。从而,可判定太阳能电池单元的品质。
作为本发明的一种实施方式,所述太阳能电池检测装置,还包含:显示控制部,识别显示因所述裂纹造成的暗区域。从而使用户能掌握由裂纹造成的暗区域。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日清纺控股株式会社,未经日清纺控股株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980148957.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的