[发明专利]螺纹参数的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 200980149000.5 申请日: 2009-12-03
公开(公告)号: CN102239385A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 尼古拉斯·赫尔南·伯纳德奥;塞巴斯蒂安·贝拉;哈维尔·伊格纳西奥·埃切韦里 申请(专利权)人: 特纳瑞斯连接有限责任公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京市路盛律师事务所 11326 代理人: 吴振江
地址: 圣文森*** 国省代码: 圣文森特和格林纳丁斯;VC
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摘要:
搜索关键词: 螺纹 参数 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种螺纹参数的测量方法,特别是带有螺纹的物体(3)的螺纹参数的测量方法,其中提供测量装置(1),该测量装置(1)包括适用于检索带有螺纹的物体的形状的至少一个光学传感器(5′,5″),测量具有前端并定义包括第一坐标轴(X′,Y′,Z′)的第一空间参照系,该测量装置(1)定义包括第二坐标轴(X,Y,Z)的第二空间参照系,提供计算机装置,用于存储预设的算法以计算描述二次型的在第二空间参照系中表示带有螺纹的物体的第一矩阵,从而提供第一和第二空间参照系之间的关系,所述方法包括下述步骤:

a)预定义至少一个光学传感器(5′,5″)在带有螺纹的物体上的至少一个轨迹,沿着所述轨迹选择预定义的测量点以使就这些值估算的矩阵具有最大的秩;

b)由至少一个光学传感器(5′,5″)沿着所述至少一个轨迹执行第一扫描操作并检索预定义的测量点的数据;

c)输入这些数据到预设的算法中并计算将第一空间参照系与第二空间参照系相关联的轴变换矩阵,以定义带有螺纹的物体相对于该第二空间参照系的相对位置;

d)使用所述轴变换矩阵将检索到的所有数据从第二空间参照系转换到第一空间参照系。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用由至少一个光学传感器(5′,5″)沿着所述至少一个轨迹进行的第一扫描操作来检索用于测量预定义的螺纹参数的数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,提供一个或多个第二扫描操作以检索用于测量预定义的参数的数据。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述至少一个轨迹包括平行于第二空间参照系的Z轴的纵向扫描。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,沿着螺旋形轨迹执行一个或多个第二扫描操作。

6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在第一或第二扫描操作中的任一个期间,检索至少一个螺纹牙侧的位置。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,通过所述至少一个螺纹牙侧的位置,定义沿着螺纹牙顶和/或牙底的中点延伸的螺旋形螺纹导程轨迹。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,沿着所述螺旋形螺纹导程轨迹执行扫描操作,并将检索到的数据拟合到线性相关。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,获得所述检索到的数据和所述线性相关之间的差值并对所述差值执行傅立叶分析。

10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在初始部分和最终部分获得和估算所述检索到的数据和所述线性相关之间的差值。

11.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述初始部分和最终部分之间的任何中间位置获得和估算所述检索到的数据和所述线性相关之间的差值。

12.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,估算带有螺纹的物体的未加工部分相对于已加工部分的对准以查找相关的过程参数。

13.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在第一空间参照系中沿着金属对金属密封圈直径定义圆形轨迹,然后将该圆形轨迹变换到第二空间参照系以由测量装置(1)执行。

14.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在第一空间参照系中沿着金属对金属密封圈直径定义螺旋形轨迹,然后将该螺旋形轨迹变换到第二空间参照系以由测量装置(1)执行。

15.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在第一空间参照系中沿着切入测量点定义纵向轨迹,然后将该纵向轨迹变换到第二空间参照系以由测量装置(1)执行。

16.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在第一空间参照系中沿着收尾测量点定义纵向轨迹,然后将该纵向轨迹变换到第二空间参照系以由测量装置(1)执行。

17.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定与数个牙侧交叉的至少一个纵向轨迹,检索这些牙侧的位置并相对于其角位置绘出其纵向位置以得到线性拟合。

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