[发明专利]接口电路、模拟触发器和数据处理器

说明书

技术领域

本发明涉及数据处理器，并且更具体地涉及负责LSI、板、设备(单元)等之间的传送的接口电路以及专门将模拟数据的瞬时值作为模拟值而存储在电路中或者提供所存储的模拟值作为电路中的模拟数据的模拟触发器。

背景技术

近年来，由于半导体技术和电路技术的发展，在LSI和板中的时钟速度不断提高。随着时钟速度的提高，LSI、板、设备(单元)等之间的接口成为瓶颈。关于数字信号数据的传送和接收，也产生了对于延迟的最小补偿的需求，且需要在远小于一个时钟周期的时段中作出调整以实现数据传送。

为应对这种时钟速度的提高，提出了一种例如用于自动校正任何线缆延迟以及任何位与位之间的偏移的技术(例如参照专利文献1)。

另一方面，关于当前可用的数字LSI，其测试方法得到了很大的技术革新，并且该技术已经达到了能够自动产生负责数字LSI中的芯片测试的测试电路或为用于测试的信号序列的测试图的水平。换言之，数字LSI是用于以“0”和“1”处理二进制信号的LSI，并且具有比模拟LSI易于测试的优点，并且数字LSI能够通过限定单一固定故障(single stuck-at fault)而简化其故障模型，从而以扫描路径测试方法等来实现计算机化。

此处，扫描路径测试是用于通过使用路径(扫描路径)来检查电路的状态的一种方法，所述路径是建立触发器的串联连接的结果。通过该扫描路径而在每个触发器中存储任意值，或者通过该扫描路径读出在每个触发器中存储的任何值。在这种扫描路径测试中，通常使用的各触发器在测试模式中全部串联连接，并且各触发器全部可由任意数据进行外部设定(可控性的改进)。此后，将所述模式变为正常模式，并且对LSI内部的每个组合门提供给关于触发器的外部设定的数据。然后加入时钟，从而将所述门的输出采集至任何同一触发器中。最后，将所述模式再次变为用于扫描输出的测试模式(可观测性的改进)，并且将内部门的信号输出至LSI的外部，从而对所述门输出是正常还是异常作出判断。重复该操作，直到达到任何期望的故障覆盖范围为止。将扫描路径测试用于数字LSI测试的这种例子已经众所周知(例如参见专利文献2)。

专利文献1：日本未审查专利公报11-112483号(图1)

专利文献2：专利2550521号(图5)

发明内容

然而，关于在专利文献1中所述的现有技术，需要预先发送用于相位/同步调整的测试图，从而使处理复杂化。为避免这种对调整的需求，可降低接口的时钟速度，但是这会导致传送速度的降低。为了即使在时钟速度降低的情况下也能保持传送速度，可增加信号线的数量以用于并行传送，但是由于实施方式而可能不允许更大量的信号线。

另一方面，关于模拟LSI的测试方法，由于每个模拟LSI处理任意连续模拟值，故其处理复杂，并且因为还没有用于故障检测的充分有效的算法，故模拟LSI的测试方法的计算机化迟迟不能实际应用。在模拟信号处理中，通常不使用触发器，且对LSI施加交流和/或直流的模拟信号。例如，直接对LSI施加各种电平和频率的信号使得控制放大器、滤波器等变得相对容易。换言之，由于每个模拟LSI包括例如可由节点电位唯一定义的电路，故模拟LSI通常具有令人满意的可控性水平。另一方面，假设LSI内部例如具有滤波器，则如上所述，可相对容易地对滤波器的输入施加任何预定的信号，从而将滤波器的输出量输入至后面的信号处理电路中。在此情况中，为观测滤波器的输出，需要在内部设置特殊的测试电路。换言之，模拟LSI通常可观测性差。

因此，关于模拟LSI，人们认为对内部信号和电位的了解有助于改进可观测性。而且，可控性提高得越大，则测试效率越高。

因此，需要能够提高LSI、板、设备(单元)等之间的接口上的每根信号线的数据传送效率的接口电路和数据处理器。还需要可建立对模拟LSI中的数据路径或扫描路径的同步的模拟触发器和数据处理器。