[发明专利]通过X射线拣选从含碳酸钙的岩石中分离矿物杂质的方法有效

专利信息
申请号: 200980150752.3 申请日: 2009-12-16
公开(公告)号: CN102256712A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: B·塔瓦克里;T·曼格尔博格;M·雷辛格 申请(专利权)人: OMYA发展股份公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342;B07C5/36
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 任永利
地址: 瑞士奥*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 通过 射线 拣选 碳酸钙 岩石 分离 矿物 杂质 方法
【权利要求书】:

1.从含碳酸钙的岩石中分离伴生矿物杂质的方法,其通过以下步骤进行:

-将所述碳酸钙岩石粉碎并分级为1mm-250mm的粒度,

-通过借助于下游检测区和通过计算机控制的评价设备随着由穿透所述颗粒流的辐射产生的传感器信号而可控制地除去包含不同于碳酸钙的组分的颗粒来分离碳酸钙颗粒,所述辐射由X射线源发射并在至少一个传感器设备中被捕获,其中允许所述X辐射穿过与彼此不同的能谱有关的至少两个滤光器装置,所述至少两个滤光器装置安置在所述至少一个传感器设备和传感器线路的上游,所述传感器线路具有多个相对于颗粒流横向安置的单独像素作为传感器设备,传感器线路为所述至少两个滤光器中的每一个而提供。

2.权利要求1的方法,其特征在于所述颗粒在输送带(“带式拣选器”)上传输或通过滑下斜槽(“斜槽型/重力拣选器”)传输。

3.权利要求1或2中任一项的方法,其特征在于对应于所述颗粒流的宽度的传感器线路由线性布置的检测器设备形成。

4.权利要求1-3中任一项的方法,其特征在于所述至少两个滤光器为经其透射彼此不同能级的X辐射的金属箔。

5.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于所述至少两个滤光器安置在所述颗粒流下方和所述传感器上游,且产生轫制辐射谱的X射线管安置在所述颗粒流上方。

6.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于所述至少两个滤光器包括以多个能级使用的多个滤光器。

7.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于将穿过所述颗粒的所述X辐射滤光成通过使用用于位置分辨性地捕获所述X辐射的金属箔滤光成的至少两种不同光谱,其已经在预定能量范围内穿过整合在用于滤光器的至少一个传感器线路中的所述颗粒。

8.权利要求7的方法,其特征在于存在图像区域的Z-分级和标准化以便基于在至少两个传感器线路中捕获的不同能谱的X射线光子的传感器信号确定原子密度类别。

9.权利要求7或8中任一项的方法,其特征在于,存在特征类别形成的分段,以便基于在通过所述至少两个传感器线路捕获的不同X射线能谱中检测到的所述本体材料的所述颗粒的平均透射和通过Z-标准化获得的密度信息来控制吹出喷嘴。

10.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于所述含碳酸钙的岩石选自包含沉积和变质成因的岩石的集合,诸如石灰石、白垩、大理石和白云石。

11.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于所述矿物杂质选自包含作为在所述碳酸钙岩石内的散粒、团块、层或作为侧岩的含变化量的白云石和氧化硅的岩石或矿物的集合,诸如燧石或石英形式的氧化硅、长石、闪岩、云母片岩和伟晶岩。

12.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于所述含碳酸钙的岩石被粉碎到5mm-120mm、优选10-100mm、更优选20-80mm、尤其是35-70mm、例如40-60mm的粒度。

13.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于使被粉碎的颗粒的一种或数种不同粒级经受分离步骤。

14.权利要求13的方法,其特征在于,粒级内最小粒度/最大粒度的比率为1∶4,优选为1∶3,更优选为1∶2。

15.权利要求13或14中任一项的方法,其特征在于,粒级内的粒度在10-30mm范围内,优选在30-70mm范围内,更优选在60-120mm范围内。

16.前述权利要求中任一项的方法,其特征在于,在所述分离步骤之后,所述碳酸钙颗粒经受粉碎步骤。

17.权利要求16的方法,其特征在于,在所述粉碎步骤之后,所述碳酸钙颗粒经受分级步骤。

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