[发明专利]用于以光学方式检查混浊介质内部的设备和方法有效

专利信息
申请号: 200980150816.X 申请日: 2009-10-06
公开(公告)号: CN102246023A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: M·C·范贝克;W·H·J·伦森;R·哈贝尔斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/49;G01N21/59;A61B5/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 方式 检查 混浊 介质 内部 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种用于以光学方式检查混浊介质内部的设备(1;10;20;30;40),包括:

适于照射要检查的混浊介质的照明系统(2;12;22;32;42);以及

适于从检测到的光产生图像的成像设备(106);

其中,所述照明系统(2;12;22;32;42)适于至少以如下模式工作:

第一模式,其中照射大区域;以及

第二模式,其中照射所述大区域的至少一个选定区域(110)。

2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述设备包括控制单元(108),所述控制单元适于分析在所述照明系统(2;12;22;32;42)处于所述第一模式时所述成像设备采集的第一图像,并从所述第一图像确定至少一个选定区域(110),用于在所述第二模式下照射。

3.根据权利要求1或2的任一项所述的设备,其中,在所述第二模式下照射所述大区域的多个选定区域(110)。

4.根据权利要求1到3的任一项所述的设备,其中,所述照明系统(2;12;22;32;42)适于在所述第一模式下在低输出光水平工作,在所述第二模式下在高输出光水平工作。

5.根据权利要求1到4的任一项所述的设备,其中,所述成像系统(106)适于在所述照明系统(2;12;22;32;42)在所述第一模式下工作时以短积分时间采集图像,并在所述照明系统在所述第二模式下工作时以较长积分时间采集图像。

6.根据权利要求1到5的任一项所述的设备,其中,所述照明系统(2)包括像素化光源单元,用于产生在所述第一模式和所述第二模式下进行照射的光。 

7.根据权利要求1到5的任一项所述的设备,其中,所述照明系统(12)包括扩展的光源单元(14)和空间滤波器单元(16),用于产生在所述第一和所述第二模式下进行照射的光。

8.根据权利要求1到5的任一项所述的设备,其中,所述照明系统(22;32)适于直接在所述混浊介质上投射期望的照明图案。

9.根据权利要求1到5的任一项所述的设备,其中,所述照明系统(42)包括多个位置可调节的独立照明设备(44)。

10.根据权利要求1到9的任一项所述的设备,其中,所述设备包括支座(104),适于支撑作为要检查的混浊介质(5)的身体部分,所述身体部分包括至少一个关节。

11.根据权利要求1到10的任一项所述的设备,其中,所述设备为医疗光学检查装置。

12.根据权利要求1到11的任一项所述的设备,其中,所述设备为用于以光学方式检查关节的设备。

13.一种用于以光学方式检查混浊介质内部的方法,所述方法包括如下步骤:

在大区域上照射要检查的混浊介质(5)并检测光作为第一图像;

从所述第一图像确定所述大区域的至少一个选定区域(110);以及

照射所述至少一个选定区域(110)并检测光作为第二图像。

14.根据权利要求13所述的方法,其中,利用同一照明系统(2;12;22;32;42)照射大区域并照射至少一个选定区域(110),并且利用同一成像设备(106)执行所述第一图像和第二图像的图像采集。 

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