[发明专利]表征材料的设备和方法

权利要求书

1.一种用于从物体获取放射线相互作用数据以确定关于所述物体的组成的信息的设备，所述设备包括：

放射源和放射线探测器系统，所述放射线探测器系统与所述放射源间隔开，以限定这两者之间的扫描区域且搜集关于与所述扫描区域中的物体相互作用后入射到所述探测器系统的放射线的使用信息，所述探测器系统能够探测和搜集关于入射放射线的光谱可解析的信息；

其中所述放射线探测器系统包括第一探测器装置和至少又一个探测器装置，所述第一探测器装置被安置成搜集透射过物体后入射到所述第一探测器装置的放射线的第一强度数据集，所述至少又一个探测器装置被安置成搜集与物体发生散射相互作用后入射到所述至少又一个探测器装置的放射线的另外的数据集；

其中所述设备还包括第一数据处理模块和至少又一个数据处理模块，所述第一数据处理模块适于解析在所述源的光谱内的至少三个能带上的所述第一强度数据集，所述至少又一个数据处理模块适于解析在所述源的光谱内的至少三个能带上的所述另外的强度数据集。

2.根据权利要求1所述的设备，包括探测器装置，该探测器装置被安置成搜集与物体发生前向散射相互作用后入射到该探测器装置的放射线的至少一个数据集。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的设备，包括另外的探测器装置，该另外的探测器装置被安置成搜集与物体发生反向散射相互作用后入射到该另外的探测器装置的放射线的另外的强度数据集。

4.根据前述任何一项权利要求所述的设备，其中每个数据处理模块适于解析在至少一些密切对应的能带上的其各自的强度数据集。

5.根据前述任何一项权利要求所述的设备，其中每个数据处理模块还包括分析模块，以分析在至少一些所解析的能带上的能量解析的数据，并从所述能量解析的数据数值地获取表征被测物体和/或组成被测物体的材料的放射线吸收行为的信息。

6.根据权利要求5所述的设备，其中所述分析模块包括一装置，该装置在至少一些解析的能带上同时数值地分析多个能量解析的数据集，以从这种组合分析中数值地获取表征被测物体和/或组成被测物体的材料的放射线散射行为的信息。

7.根据前述任何一项权利要求所述的设备，其中所述探测器系统包括线性探测器，其中所述线性探测器的第一部分与所述源和被测物体成直线以搜集透射信息，且所述探测器的其余部分离开该直线以便搜集前向散射的放射线。

8.根据权利要求7所述的设备，其中所述线性探测器从与所述源和被测物体成直线的第一部分在两个方向上都向外延伸。

9.根据权利要求7或8所述的设备，其中所述探测器系统包括两个正交的线性探测器。

10.根据前述任意一项权利要求所述的设备，还包括另外的探测器，该探测器设置在所述源和所述物体之间，且离开在所述源和所述物体之间的这样的直线，以搜集反向散射的放射线。

11.根据前述任意一项权利要求所述的设备，其中所述放射源包括用于发送选自诸如x-射线和/或伽马射线的高能量电磁放射线和亚原子微粒放射线的高能量放射线的源，且所述探测系统相应地适于探测此光谱中的放射线。

12.根据前述任意一项权利要求所述的设备，还包括准直器，所述准直器用于准直所述源的放射线以产生发射的笔形波束。

13.根据前述任意一项权利要求所述的设备，其中所述探测器系统由固有地能够展示在所述源的光谱的至少一部分上的光谱可变的响应的材料制成。

14.根据权利要求13所述的设备，其中所述探测器包括选自碲化镉、碲锌镉(CZT)、碲锰镉(CMT)、锗、溴化镧、溴化钍的半导体材料。

15.根据权利要求13或14所述的设备，其中所述探测器包括半导体材料或形成为包括II-IV族半导体材料的块状晶体的材料。