[发明专利]用于检测和校正图像传感器中的坏像素的方法有效
申请号: | 200980153006.X | 申请日: | 2009-08-28 |
公开(公告)号: | CN102265628A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 徐必起 | 申请(专利权)人: | LG伊诺特有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 夏凯;谢丽娜 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 校正 图像传感器 中的 像素 方法 | ||
1.一种用于校正图像传感器中的坏像素的方法,包括:
第一步骤,创建和存储对象的多个图像帧;
第二步骤,扫描在所述图像帧中的像素;
第三步骤,当在所述图像帧中检测到坏像素时,将所述坏像素的位置作为坏块位置存储在存储器中;和
第四步骤,在图像获取操作中,通过调用存储在所述存储器中的所述坏块位置来校正坏块的亮度值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述图像帧具有相同的亮度环境。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述图像帧具有不同的亮度环境。
4.根据权利要求1所述的方法,其中亮度环境是亮度值大于或等于阈值的亮度环境。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述阈值是大于或等于200的亮度值。
6.根据权利要求1所述的方法,其中在每个所述图像帧中具有黑色亮度值的所有像素在所述第三步骤中被确定为坏像素。
7.根据权利要求1所述的方法,其中如果在图像获取操作中在所述图像传感器中具有执行校正控制的校正寄存器,则所述第四步骤通过根据存储在所述存储器中的所述坏块位置执行在所述校正寄存器中的设置来校正所述坏块的亮度值。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述第四步骤调用存储在所述存储器中的所述坏块位置,并且用与所述坏块的前一块相同的亮度值来替代所述坏块的亮度值。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述第四步骤包括:
第(4-1)步骤,通过根据存储在所述存储器中的所述坏块位置调用块来将所述图像帧划分为多个子块;
第(4-2)步骤,检测第一子块的亮度值;
第(4-3)步骤,通过将子块的差异比率设置为前一子块和当前子块之间的亮度值差异的比率来计算所述当前子块的差异比率;
第(4-4)步骤,将所述当前子块的差异比率与预设阈值比率进行比较,并且根据比较结果确定是否校正所述当前子块的亮度值;和
第(4-5)步骤,通过检测下一子块的亮度值重复所述第(4-3)步骤和所述第(4-4)步骤,直到最后一个子块。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述预设阈值比率是0.2。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述子块的差异比率通过{前一子块sub_B(x-1)和当前子块sub_Bx之间差值的绝对值}÷{前一子块sub_B(x-1)和当前子块sub_Bx的最大亮度值}来计算。
12.根据权利要求9所述的方法,其中如果所述当前子块的差异比率大于所述预设阈值比率并且所述当前子块的差异比率和所述前一子块的差异比率之间的差值大于阈值比率,则所述第(4-4)步骤用所述前一子块的亮度值替代所述当前子块的亮度值。
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