[发明专利]用于同时检测粒子的尺寸和荧光性的紧凑型检测器

权利要求书

1.一种粒子检测和分类系统，包括：

采样区，所述采样区包括待测流体；

光源，所述光源位于所述采样区的第一侧；

第一检测器，所述第一检测器位于所述采样区的第二侧；

第二检测器，所述第二检测器位于所述采样区的第二侧；以及

抛物面反射器，所述抛物面反射器具有位于所述采样区的第一侧的顶点和位于所述采样区内的焦点；

其中，所述光源沿第一轴线向所述采样区提供基本准直的光，所述第一检测器测量在所述采样区的第二侧方向上以预定角度散射的光，所述抛物面反射器收集所述采样区内的受照射粒子由于荧光性而发出的光，并使所收集的光以基本准直的方式导向所述采样区的第二侧方向，所述第二检测器测量所述抛物面反射器收集的荧光。

2.根据权利要求1所述的系统，还包括散射光集光透镜，所述散射光集光透镜位于所述采样区的所述第二侧且其前焦点位于所述采样区内，其中，穿过所述散射光集光透镜的散射光被所述第一检测器拦截。

3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述散射光集光透镜使所述采样区内的粒子所散射的光准直，并且，所述系统还包括散射光聚光透镜，所述散射光聚光透镜接收来自所述散射光集光透镜的准直光并将所述准直光会聚到所述第一检测器。

4.根据权利要求1所述的系统，还包括设置在所述采样区的所述第二侧并在所述第一轴线上的光束阻挡设备，其中，所述光束阻挡设备拦截来自所述光源的从所述采样区出来之后的光。

5.根据权利要求4所述的系统，还包括设置在所述采样区的所述第二侧并在所述第一轴线上的长通滤光器，其中，所述长通滤光器选择性地传输具有所述采样区内的受照射粒子由于荧光性而发出的光的波长的光。

6.根据权利要求5所述的系统，还包括位于所述采样区的所述第二侧的荧光聚光透镜，所述荧光聚光透镜接收来自所述抛物面反射器的准直光，并使所述准直光导向所述第二检测器。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述第二检测器、所述光束阻挡设备、所述长通滤光器和所述荧光聚光透镜的任意组合被确定尺寸和/或被设置成部分阻挡在所述第二侧方向以预定范围内的角度散射的光。

8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述光源包括发光二极管LED或者二极管激光器，其中，所述光源发出波长在大约350nm至410nm之间的光。

9.根据权利要求1所述的系统，还包括位于所述采样区的第二侧的球面反射器，其中，所述球面反射器具有与所述抛物面反射器的所述焦点一致的曲率中心。

10.根据权利要求9所述的系统，还包括具有使得所述采样区成像到所述第一检测器上的屈光力和位置的散射光集光透镜。

11.根据权利要求9所述的系统，还包括接收来自所述抛物面反射器的准直光并将所述准直光会聚到所述第一检测器的散射光集光透镜。

12.根据权利要求9所述的系统，其中，所述采样区由承载具有大于1.0的折射率的流体的流体线路限定。

13.根据权利要求12所述的系统，其中，所述流体线路具有基本为矩形的横截面。

14.根据权利要求13所述的系统，其中，所述球面反射器包括一对光吸收掩模，所述一对光吸收掩膜被设置用于拦截由来自所述光源的光与所述流体线路的转角之间的相互作用所引起的杂散光。

15.根据权利要求12所述的系统，还包括：与所述第一检测器光连通的第一柱面透镜和与所述第二检测器光连通的第二柱面透镜。

16.一种粒子检测和分类系统，包括：

采样区，所述采样区包括待测流体；

光源，所述光源位于所述采样区的第一侧；

第一检测器，所述第一检测器位于所述采样区的第二侧；

第二检测器，所述第二检测器位于所述采样区的第二侧；

抛物面反射器，所述抛物面反射器具有位于所述采样区的所述第一侧的顶点和位于所述采样区内的焦点；

其中，所述光源提供限定第一轴线的基本准直的光，以及，

其中，所述光源、所述采样区、所述第一检测器和所述第二检测器沿着第一轴线定位。