[发明专利]设有发射源监测器的吸收光学探测器

权利要求书

1.光学探测器，其用于吸收测量，以产生吸收值Am，所述光学探测器包括分析单元(CA)，所述分析单元包括发射模块(LED、F1、HD)和适于产生检测信号(DS)的检测模块(H1、D1)，该光学探测器另外包括适于产生监测信号(MS)的监测单元(CM)，其特征在于，所述监测单元设置在连接所述发射模块至所述检测模块的光路上。

2.如权利要求1所述的光学探测器，其特征在于，所述分析单元(CA)和监测单元(CM)每个均呈具有工作面的密封体的形式。

3.如权利要求2所述的光学探测器，其特征在于，所述发射模块包括位于扩散窗(HD)后的光源(LED)，所述扩散窗出现在所述分析模块(CA)的所述工作面上。

4.如权利要求3所述的光学探测器，其特征在于，所述检测模块包括位于第一窗孔(H1)后的第一检测器(D1)，所述第一窗孔出现在所述分析模块(CA)的所述工作面上。

5.如权利要求4所述的光学探测器，其特征在于，所述监测单元(CM)包括位于部分反射的第二窗孔(H2)后的第二检测器(D2)，所述第二窗孔出现在所述监测单元的工作面上。

6.如权利要求5所述的光学探测器，其特征在于，所述第一和第二这两个检测器(D1、D2)是相同的。

7.如权利要求5或6所述的光学探测器，其特征在于，所述分析单元(CA)和监测单元(CM)通过连接部件(L1、L2)相连接，所述分析单元的工作面和所述监测单元的工作面相对。

8.如权利要求7所述的光学探测器，其特征在于，所述第二窗孔(H2)因此设置成该第二窗孔将来自所述光源(LED)的光束部分地朝所述第一窗孔(H1)的方向反射。

9.如上述权利要求中任一项所述的光学探测器，其特征在于，所述光学探测器另外包括控制回路(CC)，用以利用所述监测信号(MS)通过加权所述检测信号(DS)产生测量信号Qm。

10.如权利要求9所述的光学探测器，其特征在于，所述测量信号Qm等于所述检测信号(DS)与所述监测信号(MS)之比。

11.如权利要求10所述的光学探测器，其特征在于，所述控制回路(CC)存储有以下值：

-参考测量值Qr；

-参考吸收值Ar；

-特征长度Lc；

术语Ln表示自然对数，

所述吸收值Am由以下表达式得出：

Am＝Ar-(Ln(((Qm-Qr)/Qr)+1)/Lc)

12.如权利要求11所述的光学探测器，其特征在于，所述控制回路(CC)设有温度补偿。

13.如权利要求12所述的光学探测器，其特征在于，所述温度补偿通过两个常数K1、K2、校准温度θ₀、和实现测量的温度θ利用以下表达式实现：