[发明专利]分析系统有效
申请号: | 200980155994.1 | 申请日: | 2009-12-22 |
公开(公告)号: | CN102308194A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | L-O·E·海迪恩 | 申请(专利权)人: | S.P.M.仪器公司 |
主分类号: | G01M13/04 | 分类号: | G01M13/04;G01H1/00;G01M13/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李向英 |
地址: | 瑞典斯*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 系统 | ||
1.一种分析机器状态的装置,所述机器具有以某转速关于第二机器部件可旋转运动的第一部件,所述装置包括:
冲击脉冲测量传感器,用于监视所述可运动部件,以便产生至少一个模拟测量信号,该模拟测量信号包括取决于所述可旋转运动部件的振动运动的至少一个振动信号分量;其中,所述振动信号分量具有取决于所述第一部件的转速(fROT)的重复频率(fD);所述测量信号包括噪声也包括所述振动信号分量,所以所述测量信号具有关于所述振动信号分量的第一信噪比值;
A/D转换器(40、44),响应所述测量信号产生数字测量数据序列(SMD);所述数字测量数据序列(SMD)具有第一采样率(fS);
第一数字滤波器(240),进行所述数字测量数据序列(SMD)的数字滤波,以便获得滤波后的测量信号(SF);
包络器,响应所述滤波后的测量信号(SF)产生第一数字信号(SENV、SMDP);
降采样器,进行所述第一数字信号(SENV、SMDP)的降采样,以实现具有降低采样频率(fSR1、fSR2)的降采样数字信号(SRED);
所述降采样器(470、470A、470B)具有
第一输入,用于接收所述第一数字信号(SENV、SMDP);以及
第二输入,用于接收指示所述可变转速(fROT)的信号;
第三输入,用于接收指示输出采样率设置信号的信号;
所述降采样器(470、470A、470B)适于根据以下诸项产生所述降采样数字信号(SRED):
所述第一数字信号(SMD、SENV),
所述指示所述转速(fROT)的信号,以及
所述指示输出采样率设置信号的信号;其中,所述降采样器(470、470A、470B)适于产生所述降采样数字信号(SRED),
使得所述转速变化时所述旋转部件每转的样点值数目保持在基本上恒定值;以及
增强器(320),具有接收所述降采样数字信号(SRED)的输入;所述增强器适于产生具有所述至少一个振动信号分量对应的重复信号分量的输出信号序列(O),使得所述输出信号序列(O)具有关于所述振动信号分量的第二信噪比值;所述第二信噪比值高于所述第一信噪比值;以及
分析器(105;290;290T;294、290F),用于响应所述输出信号序列(O),指示取决于所述可旋转运动部件的所述振动运动的机器状态。
2.根据权利要求1的装置,其中,
所述第一数字滤波器(240)是具有某截止频率的高通滤波器。
3.根据权利要求2的装置,其中,
所述冲击脉冲测量传感器(10)在某机械谐振频率值(fRMU)谐振;
所述高通滤波器(240)的截止频率fLC被选定为低于所述谐振冲击脉冲测量传感器(10)的机械谐振频率值(fRMU)的值。
4.根据权利要求1、2或3的装置,其中,
所述包络器(250)包括数字整流器(270),以及
所述降采样器(310)被连接以从所述整流器(270)的输出接收将要被降采样的信号;并且其中,
所述降采样器(310)包括低通滤波。
5.根据任何一个前面的权利要求的装置,其中,
所述降采样器包括适于按整数M进行降采样的整数降采样器(310);其中,
所述数值M根据所述转速(fROT)自动设置。
6.根据任何一个前面的权利要求的装置,其中,
所述整数降采样器包括多个低通有限脉冲响应滤波器。
7.根据任何一个前面的权利要求的装置,其中,
每个FIR滤波器都可设置为期望的降采样程度。
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