[发明专利]存储器装置、存储器管理装置及存储器管理方法

说明书

技术领域

本发明涉及存储器装置、存储器管理装置及存储器管理方法。特别是，涉及一种可不降低系统功能检查存储器中写有的数据的模式(pattern)的存储器装置与存储器管理装置及存储器管理方法。

背景技术

存储数据的存储装置，有磁盘(magnetic disk)、半导体存储器等。由于存储装置根据种类具有不同的物理特性，所以需要根据其特性进行管理的方法。

作为现有的存储装置，磁盘被广泛使用。磁盘具有平均每千字节(kilobyte)只需几毫秒(millisecond)读写时间的特征。此外，磁盘还具有因数据被存储的物理位置而导致光标(arm)到达时间不同造成读写时间不同的特征。

近年来，非易失性(non-volatile)存储器正在迅速取代磁盘，它比磁盘读写时间短、功耗低、体积小。这是由于非易失性存储器可以实现大容量所导致的结果。

非易失性存储器，是以电力来读取(read)、写入(write)及擦除(erase)并在没有电力供应的状态下维持存储的数据的半导体存储器装置。对非易失性存储装置的数据存储过程，除写入之外，也叫做编程(programming)。

具代表性的非易失性存储器可为闪存(Flash memory)，闪存比现有的硬盘驱动器HDD(Hard Disk Drive)体积小、电力消耗低，具有可提高读取速度的优点。最近，用于利用大容量闪存来替代HDD的固态硬盘SSD(Solid State Disk)也已被提议出来。

闪存的种类中，具代表性的为NAND方式的闪存和NOR方式的闪存等。NAND方式和NOR方式可根据信元(cell)阵列(array)的结构和操作方式被区分。

闪存通过多数的存储器信元的排列来实现，一个存储器信元可存储一个以上的数据比特。一个存储器信元包括控制栅(control gate)和浮栅(floating gate)，控制栅和浮栅的之间被插入绝缘体(insulator)，并在控制栅和基片(substrate)之间也被插入绝缘体。

此类非易失性存储器通过一定的控制器实现管理。此外，根据此类控制器的性能，可决定非易失性存储器的整体性能。

因此，有必要对可有效地管理和控制存储器的方案来进行研究。

发明内容

技术课题

提出一种存储器装置、存储器管理装置及存储器管理方法，CPU无需接入RAM就可以检查(check)存储器的一定区域中写有的数据的模式(pattern)，于此，使得可以避免在检查数据模式时可能发生的系统性能降低。

技术方案

根据本发明的一个实施例的存储器装置，包括：接收单元，其从中央处理器CPU(Central Processing Unit)接收检查命令和检查信息；读取(read)单元，其对应所述检查命令、基于所述检查信息，读取存储器的一定区域中被写入(write)的数据；和检查单元，其基于所述检查信息，检查读取出的数据的数据模式(pattern)。

根据本发明的一个实施例的存储器管理装置，包括：控制寄存器(register)，其被用于由中央处理器CPU(Central Processing Unit)写入检查(check)命令和检查信息；读取(read)单元，其在所述控制寄存器中被写入了所述检查命令和检查信息时，对应所述检查命令、基于所述检查信息，读取存储器的一定区域中被写入的数据；和检查单元，其基于所述检查信息，检查读取出的数据的数据模式(pattern)；和状态寄存器，其被用于写入所述检查单元的检查结果。

根据本发明的一个实施例的存储器管理方法，包括以下步骤：从中央处理器CPU(Central Processing Unit)接收(check)检查命令和检查信息；对应所述检查命令、基于所述检查信息，读取(read)存储器的一定区域中被写入(write)的数据；和基于所述检查信息，检查读取出的数据的数据模式(pattern)。

技术效果

提出一种存储器装置、存储器管理装置及存储器管理方法，CPU无需接入RAM就可以检查(check)存储器的一定区域中写有的数据的模式(pattern)，于此，可避免在检查数据模式时可能发生的系统性能降低。

附图说明

图1是示出根据本发明的一个实施例的存储器装置的结构的示图；

图2是示出根据本发明的一个实施例的存储器管理装置的结构的示图；

图3是示出根据本发明的一个实施例的存储器管理方法的流程图。

具体实施方式