[发明专利]光电动势装置及其制造方法有效
申请号: | 200980158689.8 | 申请日: | 2009-04-14 |
公开(公告)号: | CN102396073A | 公开(公告)日: | 2012-03-28 |
发明(设计)人: | 中谷光德 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李今子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电动势 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种光电动势装置的制造方法,其特征在于,包含:
杂质扩散层形成工序,在第1导电型的硅基板的第1主表面侧形成扩散了第2导电型的杂质的杂质扩散层;
防反射膜形成工序,在所述杂质扩散层上形成防反射膜;
背面钝化膜形成工序,在所述硅基板的第2主表面上形成由SiONH膜构成的背面钝化膜;
表面电极形状形成工序,在所述防反射膜上以表面电极形状形成包含银的膏材料;
表面电极形成工序,焙烧所述硅基板来形成与所述杂质扩散层接触的表面电极;
背面电极形状形成工序,在所述背面钝化膜上以背面电极形状形成包含金属的膏材料;以及
背面电极形成工序,向所述背面电极的形成位置照射激光来使所述膏材料中的金属熔融、凝固而形成背面电极。
2.根据权利要求1所述的光电动势装置的制造方法,其特征在于,
在所述背面电极形成工序之后还包含背面反射金属膜形成工序,该背面反射金属膜形成工序在形成了所述背面电极的所述背面钝化膜上形成背面反射金属膜,该背面反射金属膜由对于800~1200nm的波长范围的红外线的反射率比铝高的金属构成。
3.根据权利要求2所述的光电动势装置的制造方法,其特征在于,
所述背面反射金属膜是通过从由Ag、Au、Pt、Pd、Ti、Cu、Sn构成的群中选择的至少1种金属形成。
4.根据权利要求1所述的光电动势装置的制造方法,其特征在于,
所述背面电极形状形成工序包含:
对所述背面钝化膜设置背面电极形状的开口部的工序;
在所述开口部形成所述包含金属的膏材料的工序;以及
向所述开口部的形成位置照射激光来使所述膏材料中的金属熔融、凝固而在所述开口部形成所述背面电极的工序。
5.根据权利要求1所述的光电动势装置的制造方法,其特征在于,
在所述表面电极形状形成工序中,将所述表面电极图案形成在所述杂质扩散层上,所述表面电极图案具有沿第1方向延伸且平行地配置多个的栅电极图案、以及沿第2方向延伸且连接所述栅电极图案之间的总线电极图案,
在所述背面电极形状形成工序中,将背面电极图案形成在所述硅基板的第2主表面上,所述背面电极图案具有沿所述第1方向延伸且平行地配置多个的背面集电电极图案、以及沿所述第2方向延伸且连接所述背面集电电极图案之间的背面取出电极图案,并且在将所述栅电极图案的形成位置投影到所述第2主表面上时,所述背面集电电极图案形成在所述栅电极图案的形成位置之间。
6.根据权利要求1所述的光电动势装置的制造方法,其特征在于,
在所述背面电极形状形成工序中使用的所述膏材料是以铝为主成分的膏材料。
7.一种光电动势装置,其特征在于,具备:
第1导电型的硅基板;
杂质扩散层,在所述硅基板的第1主表面侧扩散了第2导电型的杂质;
表面电极,形成在所述杂质扩散层上;
防反射膜,形成在所述杂质扩散层上的没有形成所述表面电极的区域;
背面电极,在所述硅基板的第2主表面上通过Si-Al合金形成;
背面钝化膜,形成在所述硅基板的第2主表面上的没有形成所述背面电极的区域,且由SiONH膜构成;
背面反射金属膜,在所述背面电极和所述背面钝化膜上由对于800~1200nm的波长范围的红外线的反射率比铝高的金属构成。
8.根据权利要求7所述的光电动势装置,其特征在于,
所述背面反射金属膜是通过从由Ag、Au、Pt、Pd、Ti、Cu、Sn构成的群中选择的至少1种金属形成。
9.一种光电动势装置,其特征在于,具备:
第1导电型的硅基板;
杂质扩散层,在所述硅基板的第1主表面侧扩散了第2导电型的杂质;
表面电极,形成在所述杂质扩散层上,具有沿第1方向延伸且平行地配置多个的栅电极、以及沿第2方向延伸且连接所述栅电极之间的总线电极;
防反射膜,形成在所述杂质扩散层上的没有形成所述表面电极的区域;
背面电极,在所述硅基板的第2主表面上通过Si-Al合金形成,具有沿所述第1方向延伸且平行地配置多个的背面集电电极、以及沿所述第2方向延伸且连接所述背面集电电极之间的背面取出电极;以及
背面钝化膜,形成在所述硅基板的所述第2主表面上的没有形成所述背面电极的区域,且由SiONH膜构成,
其中,当将所述栅电极的形成位置投影到所述第2主表面上时,所述背面集电电极形成在所述栅电极的形成位置之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的