[发明专利]石墨膜及石墨膜的制造方法有效

专利信息
申请号: 200980160008.1 申请日: 2009-06-22
公开(公告)号: CN102803137A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 太田雄介;三代真琴;稻田卓;西川泰司 申请(专利权)人: 株式会社钟化
主分类号: C01B31/04 分类号: C01B31/04
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 冯雅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 石墨 制造 方法
【权利要求书】:

1.石墨膜的制造方法,它是具有以在内芯上卷绕由碳化的高分子膜形成的热处理膜的状态,在2000℃以上的温度进行热处理的石墨化工序的石墨膜的制造方法,其特征在于,所述石墨化工序包含进行所述热处理膜的卷紧的卷紧工序。

2.如权利要求1所述的石墨膜的制造方法,其特征在于,在所述卷紧工序中,按照达到w0/r0×100≤7的状态将所述热处理膜卷紧,该r0为内芯的外周的长度,w0为内芯和第1层的热处理膜的空间距离。

3.如权利要求1或2所述的石墨膜的制造方法,其特征在于,在所述卷紧工序中,按照达到在所存在的Nh的热处理膜间空间中的Nh×0.5以上的热处理膜间空间中距离wn≤5mm的状态将所述热处理膜卷紧,该Nh为热处理膜的卷绕圈数,wn为第n层的热处理膜和第n+1层的热处理膜之间的空间的距离,其中,n为0~Nh-1的整数,第0层为内芯的外表面。

4.如权利要求1~3所述的石墨膜的制造方法,其特征在于,在所述卷紧工序中,按照达到(rn+1-rn)/rn×100≤8的状态将所述热处理膜卷紧,该rn为第n层热处理膜的卷绕长度,rn+1为第n+1层热处理膜的卷绕长度,其中,n为0或自然数,r0为内芯的外周的长度。

5.如权利要求1~4所述的石墨膜的制造方法,其特征在于,在所述卷紧工序中,按照达到1≤D/(Nh×d)≤2.5的状态将所述热处理膜卷紧,该Nh为热处理膜的卷绕圈数,d为热处理膜的每1层的厚度,D为热处理膜的表观卷厚。

6.如权利要求1~5所述的石墨膜的制造方法,其特征在于,在所述卷紧工序中,进行热处理至2200℃以上后,进行热处理膜的卷紧。

7.如权利要求1~6所述的石墨膜的制造方法,其特征在于,所述石墨化工序中,还包含在热处理中,使热处理膜放松的放松工序,该放松工序在1400℃以上2900℃以下的温度区域实施。

8.石墨膜的制造方法,它是以在内芯上卷绕由碳化的高分子膜形成的热处理膜的状态,在2000℃以上的温度实施热处理,进行石墨化的石墨膜的制造方法,其特征在于,包含在热处理的前后,保持w0/r0×100≤7的状态的热处理工序,该r0为内芯的外周的长度,w0为内芯和第1层的热处理膜的空间距离。

9.石墨膜的制造方法,它是以在内芯上卷绕由碳化的高分子膜形成的热处理膜的状态,在2000℃以上的温度进行石墨化的石墨膜的制造方法,其特征在于,包含保持在所存在的Nh的热处理膜间空间中的Nh×0.5以上的热处理膜间空间中距离wn≤5mm的状态的热处理工序,该Nh为热处理膜的卷绕圈数,wn为第n层的热处理膜和第n+1层的热处理膜之间的空间的距离,其中,n为0~Nh-1的整数,第0层为内芯的外表面。

10.石墨膜的制造方法,它是以在内芯上卷绕由碳化的高分子膜形成的热处理膜的状态,在2000℃以上的温度进行石墨化的石墨膜的制造方法,其特征在于,包含在热处理前后保持(rn+1-rn)/rn×100≤8的状态的热处理工序,该rn为第n层热处理膜的卷绕长度,rn+1为第n+1层热处理膜的卷绕长度,其中,n为0或自然数,r0为内芯的外周的长度。

11.石墨膜的制造方法,它是以在内芯上卷绕由碳化的高分子膜形成的热处理膜的状态,在2000℃以上的温度进行石墨化的石墨膜的制造方法,其特征在于,包含在热处理前后保持1≤D/(Nh×d)≤2.5的状态的热处理工序,该Nh为热处理膜的卷绕圈数,d为热处理膜的每1层的厚度,D为热处理膜的表观卷厚。

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