[发明专利]放射线成像装置和放射线成像系统、以及它们的控制方法和程序有效

专利信息
申请号: 200980160036.3 申请日: 2009-06-25
公开(公告)号: CN102458251A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 横山启吾;远藤忠夫;龟岛登志男;秋山正喜;八木朋之;竹中克郎;佐藤翔 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 康建忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射线 成像 装置 系统 以及 它们 控制 方法 程序
【说明书】:

技术领域

本发明涉及成像装置、放射线成像装置和放射线成像系统。更特别地,本发明涉及适用于医疗诊断中的诸如一般放射线照相的静止图像放射线照相或诸如荧光放射线照相的运动图像放射线照相的放射线成像装置和放射线成像系统所使用的成像装置。注意,在本发明中,除了作为通过放射线衰变发射的粒子(包含光子)的射束的α射线、β射线、γ射线以外,术语“放射线”还包括例如X射线、粒子束和宇宙射线等的具有大于等于以上射线的能量的能量的射束。

背景技术

近年来,作为用于X射线医疗诊断成像或非破坏性检查的放射线照相装置,包括由半导体材料形成的平板检测器(以下,简写为FPD)的放射线成像装置已开始投入实用。例如在医疗诊断成像中,这样的放射线成像装置被用作用于一般放射线照相那样的静止图像放射线照相或荧光放射线照相那样的运动图像放射线照相的数字成像装置。

在这种放射线成像装置中,如PTL1公开的那样,已经研究了在通过FPD读取的区域(视场尺寸)和X射线的照射区域之间切换的能力。但是,在执行切换以增大照射区域的情况下,在FPD的被照射区域和未被照射区域之间,像素的敏感度或暗输出不同。因此,在获得的图像中出现受照射区域影响的幻影(图像段差(image step)),从而导致了图像质量降低的危险。

在PTL 2中,进行执行用于校正受照射区域影响的这种幻影的图像处理的检查。具体地,基于包含幻影并通过均匀的照射获得的数据对于每个X射线照射条件获得需要的幻影校正系数,幻影校正系数与收集关于作为照射区域的正被检查的部分的数据的X射线照射条件和从开始X射线照射起花费的时间对应。因此,通过使用需要的幻影校正系数校正关于正被检查的部分的数据,并且产生校正后的图像数据。

引文列表

专利文献

PTL 1:日本专利公开No.11-128213

PTL 2:日本专利公开No.2008-167846

发明内容

技术问题

但是,在PTL 2的校正技术中,由于通过图像处理执行校正,因此,参数的管理或校正处理复杂,并且整个装置的复杂性增加。另外,需要诸如事先获取用于校正的数据的复杂操作,并且,还需要诸如完全数据采样的严格管理以获得稳定的图像质量。并且,可导致上述的幻影的从FPD获得的图像信号中所包含的残像量不减少,并因此难以在各种状况下获得最佳的效果。

对于问题的解决方案

作为提供如下这样的成像装置和系统的深入研究的结果,该成像装置和系统能够在不执行复杂图像处理的情况下减少可在获得的图像中出现的受照射区域影响的图像段差的出现并且避免图像质量的明显降低,要求权利的本发明的发明人实现了本发明的以下的方面。

根据本发明的成像系统是一种放射线成像系统,所述放射线成像系统包括:成像装置,所述成像装置包含:检测器,用于执行用于输出与发射的放射线或光对应的图像数据的放射线照相操作,所述检测器具有以矩阵方式布置的多个像素,像素具有将放射线或光转换成电荷的转换元件,背景光源,用与所述放射线或光不同的背景光照射所述检测器;和控制单元,用于控制包含所述放射线照相操作的所述检测器的操作和所述背景光源的操作;以及控制计算机,控制所述成像装置,其中,所述放射线照相操作包含第一放射线照相操作和第二放射线照相操作,所述第一放射线照相操作用于输出与在与包含于所述多个像素中的一些像素对应的第一照射场中照射所述检测器的放射线或光对应的图像数据,所述第二放射线照相操作用于输出与在比所述第一照射场大的第二照射场中照射所述检测器的放射线或光对应的图像数据,其中,所述控制计算机基于关于所述第一放射线照相操作中的放射线的积分剂量的信息确定背景光的积分剂量,并且向所述控制单元应用基于确定的背景光的积分剂量的控制信号,并且,其中,所述控制单元控制所述背景光源的操作,使得根据从所述第一照射场到所述第二照射场的改变,在所述第一放射线照相操作和所述第二放射线照相操作之间的时段期间以确定的背景光的积分剂量执行背景光的照射

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