[发明专利]用于生成对象的三维图像的设备有效
申请号: | 200980160259.X | 申请日: | 2009-07-03 |
公开(公告)号: | CN102483326A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 铃木敏;铃木健吾;高林正树;佐野阳一;铃木雅大 | 申请(专利权)人: | 莱卡地球系统公开股份有限公司;海克斯康测量技术株式会社 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;张旭东 |
地址: | 瑞士海*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 生成 对象 三维 图像 设备 | ||
1.一种用于生成待测量对象的表面的三维图像的扫描设备,所述扫描设备包括:
●激光源,用于发射激光;
●第一光学单元,用于将从所述激光源发射的激光朝向所述对象的表面照射;
●第二光学单元,用于成像从所述对象的表面反射的激光;
●具有多个传感器元件的光敏检测器,用于检测来自所述第二光学单元的激光的成像位置;
●入射光测量装置,用于测量与进入所述光敏检测器的激光量对应的接收激光量;和
●处理单元,用于以下述方式控制所述扫描设备:
-生成具有预定时间间隔的多个定时信号,
-所述定时信号控制所述光敏检测器的传感器元件的重置定时,
-在一个定时信号之后从所述激光源照射验证激光达短于所述预定时间间隔的时间段,
-利用所述入射光测量装置测量从所述对象的表面反射的所述验证激光的量,和
-根据利用所述入射光测量装置测量的所述验证激光的量确定从所述激光源发射的所述测量激光的量。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述激光源被构造为激光二极管。
3.根据权利要求1或2所述的设备,其中,所述光敏检测器被构造为线阵传感器,特别地为CCD线阵传感器,或者被构造为面阵传感器,特别地为CCD矩阵阵列或面阵CMOS传感器。
4.根据权利要求1-3中的任一项所述的设备,所述设备进一步包括:
●移动装置,用于移动从所述激光二极管发射的激光的照射位置;
●检测装置,用于检测所述移动装置的移动;并且
●其中,通过从所述检测装置输出的检测信号生成所述多个定时信号。
5.根据权利要求1-3中的任一项所述的设备,其中,所述多个定时信号由所述控制单元触发。
6.根据权利要求1-5中的任一项所述的设备,其中,所述入射光测量装置的输出用于确定所述待测量对象的表面的对比度信息。
7.根据权利要求1-6中的任一项所述的设备,其中,所述测量激光的量用于确定所述待测量对象的表面的对比度信息。
8.根据权利要求1-7中的任一项所述的设备,其中,根据所述激光源的发射时间的长度确定所述测量激光的量。
9.根据权利要求1-8中的任一项所述的设备,其中,根据所述激光源的光的强度确定所述测量激光的量。
10.根据权利要求1-9中的任一项所述的设备,其中
●所述测量激光在所述预定时间间隔被照射多次,
●利用所述入射光测量装置测量一个测量激光的量,并且
●根据利用所述入射光测量装置确定的所述一个测量激光的量确定从所述激光源发射的所述测量激光的下一光强度。
11.根据权利要求1-10中的任一项所述的设备,其中,所述入射光测量装置具有响应于激光的强度的多个放大器。
12.根据权利要求1-11中的任一项所述的设备,所述设备进一步包括至少一个引导光源,特别是第二激光二极管,其被构造和布置为将可见光谱范围内的引导束照射到所述对象的表面上,
●其中,所述引导束的发射位置与由所述激光源发射的激光的发射位置隔开,并且
●其中,所述引导束相对于所述测量激光倾斜照射,使得所述引导束和所述激光以最优扫描偏移距离交叉。
13.根据引用权利要求4时的权利要求12所述的设备,其中,代表所述移动装置,来回往复所述引导束的照射位置。
14.根据权利要求13所述的设备,其中,所述引导束以下述方式照射并投射到表面上:通过随着时间控制所述引导光源的发射间隔,所述引导束作为引导线出现在所述对象的表面上,特别地作为虚线引导线。
15.根据权利要求12或13所述的设备,其中
●从所述第二光学单元的镜发射所述引导,所述镜被设计为接收从所述对象的表面反射的激光,
●或者从第三光学单元发射所述引导,所述第三光学单元用于朝向所述对象的表面照射所述引导光源的所述引导束。
16.根据权利要求12-14中的任一项所述的设备,其中,所述引导光源的所述引导束和所述激光源的所述激光具有不同颜色。
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