[发明专利]电路基板以及电子设备有效

专利信息
申请号: 200980161936.X 申请日: 2009-10-15
公开(公告)号: CN102576241A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 浅野英洋;宫本十四广 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F1/26 分类号: G06F1/26
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;朱丽娟
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 路基 以及 电子设备
【说明书】:

技术领域

本申请公开涉及电路基板以及电子设备。

背景技术

在计算机和便携电话等那样的电子设备中组装有电路部件。此外,在许多电子设备中,组装有在印刷基板(布线基板)上安装有电路部件的电路基板。

在这种电路部件中,存在由于某些原因而使得特性劣化的电路部件。此外,已知各种使电路部件的特性劣化的原因。并且,提出了与原因对应的处理方法(例如参照专利文献1~专利文献4)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平03-48999号公报

专利文献2:日本特开2005-23734号公报

专利文献3:日本特开平07-230750号公报

专利文献4:日本特开平10-62476号公报

发明内容

发明所要解决的课题

但是,在特性劣化的电路部件中,如电解电容器或Flash存储器等那样,具有放置半年或1年等这样的长时间时电气特性会劣化的电路部件。认为电路基板例如在为保养用的库存等而以单体被保管的情况下,容易产生长时间的保管。此外,即使在将电路基板组装到电子设备中后也可能产生上述那样的长时间保管。并且,考虑到鉴于技术形势和社会形势的今后的动向,还期望进一步延长电路基板和电子设备的产品寿命。

因此,预想电路基板和电子设备的性能会随着伴随长期保管的电路部件的劣化而降低。并且,期望抑制这种电路部件的劣化来抑制电路基板和电子设备的性能降低的技术,但是现状是没有特别提出方案。

鉴于上述情况,本申请公开的目的在于提供一种抑制了长期保管引起的性能降低的电路基板以及电子设备。

用于解决课题的手段

达到上述目的的电路基板和电子设备的基本方式具有:布线基板;以及电路,其包含由于在不通电情况下的放置而产生劣化的劣化性部件并构成在上述布线基板上,利用第1电源的电力进行工作。并且,该基本方式具有:第2电源,其搭载在上述布线基板上;以及通电控制部,其利用上述第2电源的电力至少使上述劣化性部件断续地通电,并构成在上述布线基板上。在电子设备的基本方式的情况下,还具有上述第1电源。

发明的效果

根据以上所说明的电路基板和电子设备的上述基本方式,能够抑制长期保管引起的性能降低。

附图说明

图1是示出第1实施方式的图。

图2是表示第1实施方式中的控制动作的流程图。

图3是示出副电源的通电路径的具体例子的图。

图4是表示第1实施方式中的中断处理的流程图。

图5是示出第2实施方式的图。

图6是表示第2实施方式中的控制动作的流程图。

图7是示出第3实施方式的图。

图8是表示第3实施方式中的控制动作的流程图。

图9是表示第3实施方式中的中断处理的流程图。

具体实施方式

以下参照附图说明针对关于基本方式在以上已说明的电路基板和电子设备的具体实施方式。

上述基本方式通过对劣化性部件进行断续地通电来抑制电路部件的劣化。其结果,电路基板和电子设备即使长时间保管也能够抑制性能降低。作为针对这种基本方式的优选应用方式,对第1应用方式和第2应用方式进行说明。在第1应用方式中,上述通电控制部具有对经过时间进行测量的计时器。此外,该通电控制部还具有经过时通电部,该经过时通电部在利用该计时器测量的经过时间达到了预定的基准时间的情况下,利用上述第2电源的电力至少对上述劣化性部件一时地通电。并且,该通电控制部具有重置部,该重置部在利用第1和/或第2电源对上述劣化性部件通电的情况下对上述计时器进行重置。

根据该第1应用方式,能够利用由计时器等构成的简易的通电控制部实现对于劣化性部件的定期通电。

在第2应用方式中,上述通电控制部具有确认是否存在第1电源对于上述电路的电力供给的供给确认部。此外,该第2应用方式中的上述通电控制部具有无供电时通电部,该无供电时通电部在由上述供给确认部确认到没有供给的情况下,利用上述第2电源的电力至少对上述劣化性部件一时地通电。

根据该第2应用方式,在利用第1电源进行电力供给的情况下避免利用第2电源的通电,因此能够长时间保持第2电源的电力。

以下参照附图说明的第1实施方式相当于针对上述基本方式的具体实施方式,并且还相当于针对上述第1应用方式和上述第2应用方式的具体实施方式。

图1是示出第1实施方式的图。

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