[发明专利]射频综合样品检查方法无效
申请号: | 200980162574.6 | 申请日: | 2009-09-30 |
公开(公告)号: | CN102648406A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | J-B.佩林;J-R.菲利普 | 申请(专利权)人: | 分光扫描公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;A61B6/02;G06T11/00;G06T19/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 郭定辉 |
地址: | 法国克*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 综合 样品 检查 方法 | ||
1.一种借助于至少一个X射线源和至少一个与所述源配对的数字传感器的、利用数字实时3D射线照相的连续样品检查方法,X射线源与数字传感器都根据反向和同向轨迹运动,其特征在于
I.在第一阶段,通过实现如下步骤序列,生成了所述待测标准样品的数字模型和被选为最相关的、在所述X射线源及用于获取射线照相图像的相关传感器的运动空间中的最佳轨迹的数字模型:
A-在称为“所述标准样品的设计和/或定义的步骤”的第一步骤中,其实现:
-A1:所述样品的3D参数设置;
-A2:由构成所述样品的各种物质的X射线吸收法则的3D制图;
-A3:所述样品的至少一个3D剖面的定义。
B-在称为“参数传递和转换的步骤”的第二步骤中,其实现:
B1-:所述步骤(A)的参数的传递和转换;
B2-:所述各种物质的X射线吸收法则的样品的体积分布;
B3-:所述步骤A3中至少一个3D剖面坐标的计算。
C-在称为“仿真与最优化步骤”的第三步骤中,其实现了至少一个3D剖面重建所需要的最佳投影的仿真和搜索;
-C1:通过仿真所述样品的射线照相投影从由步骤(B)产生的数据;
-C2:通过借助于选择所述一个或多个剖面的最相关图像的最优化算法控制投影的仿真;
D-在称为“轨迹生成步骤”的第四步骤中,其从在所述步骤C2结束时获得的照片位置集合中,实现所述X射线源和传感器在它们的运动空间中的最佳轨迹的生成。
E-在称为“获取运动的集成步骤”的第五步骤中,其生成试图用于实现之前选择的所述射线照相图像的连续获取动作的机械装置的至少一个命令文件。
II.在第二阶段,其为了实时连续地测试这些真实样品,通过使用在之前传递的所述X射线源和所述关联传感器的最佳轨迹,对真实样品实时连续地实现所述射线照相图像获取。
III.在第三阶段,在阶段II时所获取的射线照相图像构成用于所述已测真实样品的3D剖面的实时重建的算法的输入参数。
IV.在第四阶段,所述3D剖面图像由图像分析软件和/或操作者(自然人)采用。
2.如权利要求1的所述方法,其特征在于,借助于已知CAD软件,实现所述样品的3D几何的参数设置,以获得标准样品的3D模型。
3.如权利要求1或2中至少一个的所述方法,其特征在于,通过考虑构成所述标准样品的各种成分的空间分布,实现所述X射线吸收法则的3D制图。
4.如权利要求1到3中至少一个的所述方法,其特征在于,借助于允许在所述标准样品的体积中至少一个剖面的交互定位的3D图形可视化软件,实现所述标准样品的至少一个剖面的定义。
5.如权利要求1到4中至少一个的所述方法,其特征在于,借助于合并软件,实现所述标准样品的3D模型参数的传递和转换,提供在所述步骤C中实施的最优化算法需要的数据。
6.如权利要求1到5中至少一个的所述方法,其特征在于,借助于搜索软件实现之前参数化了的至少一个所述3D剖面的重建需要的最佳投影的仿真和搜索。
7.如权利要求1到6中至少一个的所述方法,其特征在于,借助于仿真所述射线照相投影的、专用于X射线的射线跟踪的功能获得在所述步骤B中实施的传递产生的所述样品的数据。
8.如权利要求1到7中至少一个的所述方法,其特征在于,借助于元启发式最优化算法实现重建所述剖面需要的最相关图像的选择。
9.如权利要求1到8中至少一个的所述方法,其特征在于,从所述已知照片位置集合中,生成在运动空间中的轨迹,其对于所述X射线源及所述关联数字传感器的运动和对于所述这些照片的获取的持续时间两者都是最优的。
10.如权利要求1到9中至少一个的所述方法,其特征在于,从所述体积和所述标准样品的X射线吸收信息以及从所述将被实现的断面的位置上的信息,通过在所述选定的一个或多个剖面方向上的照片仿真,从空间的所有方向上生成射线照相图像。
11.如权利要求1到10中至少一个的所述方法,其特征在于,元启发式算法选择所述选定的一个或多个剖面的生成需要的最相关照片。
12.如权利要求1到11所述的、在工业研究、质量控制、医疗、辅助医疗、兽医和药物领域、生物技术、微技术和纳米技术、港口和机场安全及防伪领域的应用。
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