[发明专利]一种表贴石英谐振器粗漏检查方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及电子器件制造领域，尤其涉及一种表贴石英谐振器粗漏检查方法及设备。

背景技术

近年来，随着移动通讯市场的旺盛需求及便携式数字设备的日益普及，作为频率控制的关键器件，SMD(表面贴装器件)石英谐振器因其可靠性高，频率控制到+/-10PPM相对比较容易，所以市场的需求，也越来越大。

作为陶瓷封装的产品，无论是具有可伐环还是没有可伐环的滚边焊接，加工过程之中，总会有0.03-0.1％的粗漏不良发生，因此，滚边焊接后，所有的石英晶体都必须进行粗漏检查。

因此，有必要设计一种新型的表贴石英谐振器粗漏检查方法及设备，以进行粗漏检查。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明的目的是提供一种能够方便地对表贴石英谐振器进行粗漏检查的方法及设备。

本发明的表贴石英谐振器粗漏检查方法包括：a.将待测的石英谐振器加载至预检测位置；并在所述预检测位置测量大气压状态下石英谐振器的第一阻抗；b.将所述石英谐振器加载至真空室，并将所述真空室抽至预定真空度；c.测量预定真空度状态下石英谐振器的第二阻抗；d.将所述第一阻抗和第二阻抗进行比较；e.当第一阻抗和第二阻抗的差值大于或等于预定阻抗差值时，判定石英谐振器存在漏气缺陷；当第一阻抗和第二阻抗的差值小于预定阻抗差值时，判定被测石英谐振器为合格产品。

优选地，在步骤f中，所述预定阻抗差值为4欧姆以上。

优选地，步骤b包括：将所述石英谐振器加载至真空室，并将所述真空室抽至10pa以下，并保持60秒以上。

优选地，所述方法还包括步骤g：检测石英谐振器的静态电容，当所测量的静态电容与中间静态电容值之差大于或等于预定偏差值，判定所述检测存在接触不良，其中，所述中间静态电容值为多个抽样石英谐振器的静态电容的平均值。

优选地，步骤b包括：将所述石英谐振器加载至真空室，当所述石英谐振器发生漏气时，将所述真空室抽至30000pa以下，并保持60秒以上。

优选地，所述预定偏差值为+/-0.2PF。

本发明还提供了一种表贴石英谐振器粗漏检查装置，所述装置包括：传送单元，用于将待测的石英谐振器加载至预检测位置，以及将所述石英谐振器加载至真空室；阻抗检测单元，用于在所述预检测位置测量大气压状态下石英谐振器的第一阻抗，以及测量预定真空度状态下石英谐振器的第二阻抗；抽真空单元，用于将所述真空室抽至预定真空度；判别单元，将所述第一阻抗和第二阻抗进行比较；并且当第一阻抗和第二阻抗的差值大于或等于预定阻抗差值时，判定石英谐振器存在漏气缺陷；当第一阻抗和第二阻抗的差值小于预定阻抗差值时，判定被测石英谐振器为合格产品。

优选地，所述装置还包括静态电容检测单元，用于检测石英谐振器的静态电容，当所测量的静态电容与中间静态电容值之差大于或等于预定偏差值，判定所述检测存在接触不良，其中，所述中间静态电容值为多个抽样石英谐振器的静态电容的平均值。

相对于现有技术，本发明的表贴石英谐振器检查方法和装置实现简单，成本低廉。

附图说明

图1(a)是SMD石英晶体谐振器的结构示意图；

图1(b)是SMD石英晶体谐振器的等效电路图；

图1(c)是频率为12.000MHZ的型号为3225的石英晶体谐振器的阻抗与真空度的数值关系图；

图1(d)是频率为32.000MHZ的型号为3225的石英晶体谐振器的阻抗与真空度的数值关系图；

图1(e)是频率分别为12MHZ和40MHZ的型号为5032的石英晶体谐振器的阻抗与真空度的数值关系图；

图1(f)是本发明一个实施例中抽真空导致接触阻抗的变动曲线的示意图；

图2是本发明石英谐振器粗漏检查方法的流程图；

图3是本发明石英谐振器粗漏检查装置的结构框图。

具体实施方式

图1(a)所示的是SMD石英晶体谐振器，所述石英晶体谐振器包括陶瓷基座1，石英晶片2，导电胶3，盖板4。被好电极的石英晶片通过导电胶3固定在基座1中，基座1内部有一个容纳石英晶片2的腔体，石英晶片2可以自由地机械振动。

石英晶体谐振器的等效电路如图1(b)所示，主要电参数包括：频率FL、静态电容C0、阻抗R1、动态电容C1和动态电感L1等，本发明需要考虑阻抗R1和静态电容C0。