[发明专利]差动共焦透镜中心厚度测量方法与装置有效
申请号: | 201010000555.8 | 申请日: | 2010-01-13 |
公开(公告)号: | CN101793500A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 赵维谦;史立波;孙若端;邱丽荣;刘大礼;沙定国 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G02B5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 差动 透镜 中心 厚度 测量方法 装置 | ||
1.差动共焦透镜中心厚度测量方法,其特征在于:
(a)首先,调整被测透镜,使其与差动共焦测头共光轴;
(b)然后,出射差动共焦光锥的差动共焦测头沿光轴方向扫描移动,差动共焦系统通过探测差动响应信号的绝对零点值来确定差动共焦光锥顶点与被测透镜前表面顶点相重合,此时差动共焦测头的位置坐标为z1;
(c)将差动共焦测头继续沿光轴方向扫描移动,再次利用差动响应信号的绝对零点值来确定差动共焦光锥顶点与被测透镜的后表面顶点相重合,此时差动共焦测头的位置为z2;
(d)根据已知参数:差动共焦光锥的数值孔径角α0、被测透镜前表面的曲率半径r1、空气折射率n0、被测透镜折射率n和差动共焦测头两次定位的移动量l=|z2-z1|,可由以下公式:
计算得到被测透镜的中心厚度d。
2.根据权利要求1所述的差动共焦透镜中心厚度测量方法,其特征在于:利用环形光瞳遮挡近轴光线,形成空心的测量光锥,削减像差对测量结果的影响。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010000555.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。