[发明专利]射频识别设备及其测试方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求享有2009年6月24日提交的韩国专利申请No.10-2009-0056372，10-2009-0056374，10-2009-0056388，10-2009-0056389和10-2009-0056390的优先权，在此通过引用参考将其整体并入本文。

技术领域

本发明的实施例涉及射频识别设备及其测试方法，更具体地说涉及使得一个测试芯片能够对包括在晶片级(即，在晶片被切割成各个电路之前)的标签芯片阵列中的多个标签芯片进行测试的技术。

背景技术

通过使用射频(RF)信号，已经广泛地使用射频识别(RFID)标签芯片来自动识别对象。为了使用RFID标签芯片来自动识别对象，首先将RFID标签粘附到待识别的对象上，并且RFID读取器与所述对象的RFID标签进行无线通信而不需与RFID标签进行视线或者物理接触。由于这种RFID技术的广泛使用，可大大降低相关的自动识别技术诸如条形码及光学特征识别技术的缺点。

近来，RFID已被广泛地用于物流管理系统、用户身份认证系统、电子货币(e-money)、运输系统等。例如，物流管理系统一般使用其中记录数据的集成电路(IC)而不是使用送货单或标签来执行库存中的货物识别或者货物管理。此外，用户身份认证系统一般使用包含个人信息等的IC卡来执行入口与出口管理功能等。

同时，非易失性铁电存储器可被用作RFID标签中的存储器。一般来说，非易失性铁电存储器即铁电随机存取存储器(FeRAM)，具有类似于动态随机存取存储器(DRAM)的数据处理速度，并且即使在断电的情况下仍可保存数据，使得许多研发人员对FeRAM进行广泛研究以作为下一代存储设备。

上述FeRAM具有非常类似于DRAM的结构，并且使用铁电电容器作为存储装置。铁电物质具有高度剩余极化特性，使得数据不会因去除电场而丢失。

图1为说明一般的RFID设备的方框图。

现有技术的RFID设备一般包括天线单元1、模拟单元10、数字单元20以及存储单元30。

在此情况下，天线单元1从外部RFID读取器接收射频(RF)信号。来自天线单元1的RF信号经天线焊盘11与12被输入到模拟单元10。

模拟单元10放大该输入RF信号，以产生电源电压VDD，该电源电压提供用于RFID标签的驱动电压。模拟单元10检测来自输入RF信号的操作命令信号，以及将命令信号CMD输出到数字单元20。此外，在模拟单元10检测输出电压VDD后，将时钟CLK和用于控制复位操作的上电复位信号POR输出到数字单元20。

数字单元20从模拟单元10接收电源电压VDD、上电复位信号POR、时钟CLK以及命令信号CMD，以及响应所接收的信号将响应信号RP输出到模拟单元10。数字单元20将地址ADD、输入/输出数据(I/O)、控制信号CTR以及时钟CLK输出到存储单元30。存储单元30使用存储设备来读取和写入数据，并将数据储存于其中。

在此情况下，RFID设备使用各种频带的时钟。一般来说，当降低频带值时，RFID设备具有较低的识别速度、较短的操作距离，并且受环境影响较少。相反，当增加频带值时，RFID设备具有较高的识别速度、较大的操作距离，并且受周围环境影响较大。

能够测试RFID标签是否正常操作的最佳测试方法如下。RF信号被输入到每一个RFID焊盘的天线焊盘11和12。RF信号由包含在RFID标签中的数字单元20处理，以产生响应信号RP，然后，调制该响应信号RP并将其传送到RFID读取器。因此，上述测试方法可确定RFID读取器所接收的信号是否为正确信号。

然而，在一块晶片中存在超过数千个的RFIF标签，使得将RF信号施加到所有RFID标签的每一个的上述测试方法并不符合成本效益并且没有效率。

发明内容

本发明的各种实施例是提供一种RFID设备及其测试方法，其基本上消除由于现有技术的限制及缺点所造成的一个或多个问题。

根据本发明的一个方面，射频识别(RFID)设备包括：标签芯片，配置用于当从外部节点接收测试输入信号时，执行它的测试操作，以及向外输出指示该测试操作的结果的测试输出信号；以及测试芯片，配置用于在测试模式期间当从外部节点接收到地址及数据时，测试所述标签芯片。